XPS,即X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy),是一种用于表征物质表面化学性质的技术。具体来说,XPS能够测量的表征包括以下几个方面: 元素组成:XPS能够识别并量化样品表面存在的元素,几乎可以对所有元素(氢和氦除外,因为它们的结合能低于XPS使用的X射线能量)进行定性分析。 化学态与价态:通过测量光电子...
可见,XPS表征对探究CuO/TiO2光催化降解多溴联苯醚(PBDEs) 的机理起到了重要作用。 4.2.3 催化剂的能带结构表征 若两个以上的原子以电子云重叠的方式形成化合物,其内层电子几乎保持在原来的轨道上运行,从而导致其X射线光电子能谱没有明显的区别,而价电子可以形成有效的分子轨道,因此,XPS价带谱能直接反映化合物的...
X射线光电子能谱( X-ray photoecectron spectroscopy, XPS) 技术是一种通过一束入射到样品表面3~10 nm深度的光子束,检测材料表面信息的无损测量技术。XPS技术能很好地使样品保持其原有的结构信息,可用于定性和定量分析材料表面的元素组成和含量,以及分析元素的化学价态、化学键等信息。 X射线光电子能谱(XPS)的基...
一、XPS原理 XPS是基于光电效应原理的一种表征方法。当材料表面受到X射线的照射时，X射线光子会与材料表面的原子发生相互作用，将材料表面的电子激发到较高能级。这些激发电子的能量与原子的价带结构和化学键性质有关，因此可以通过测量这些电子的能量来推断材料的化学组成和电子结构。二、样品制备 在进行XPS实验之前，...
**XPS表征图解释指南** 一、引言 X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称XPS)是一种常用的表面分析技术。它利用X射线作为激发源,使样品表面的原子或分子中的内层电子或价电子受激发射出来,通过测量这些发射出来的光电子的能量分布,可以获得样品表面的元素组成、化学态以及化学键等信息。本文将详细介绍...
一、X射线光电子能谱(XPS)缺陷会导致材料结构中配位数低的原子，为氧物种化学吸附提供配位的不饱和位点。X射线光电子能谱（XPS）是最广泛使用的表面分析方法之一，可以提供材料表面的化学状态和有价值的定量信息。应用于大多数的固体材料。它可以从表面获得约10 nm深度的信息。材料中的缺陷会改变键合能量，这可以从...
催化剂表征-x射线光电子能谱(XPS)
XPS，即X射线光电子能谱（X-rayPhotoelectronSpectroscopy），是一种利用X射线辐射样品，使得样品的原子或分子的内层电子或价电子受到激发而成为光电子，通过测量光电子的信号来表征材料表面的化学组成、元素的结合能以及价态的技术。它常被用于分析材料表面的化学成分和价态信息，以及固体表面的元素种类、化学...
XPS（X射线光电子能谱）主要用于表面分析，能够测量材料表面的化学成分和价态信息。通过分析样品表面被X射线光子激发后发射出的光电子和俄歇电子的能量、角度和强度，XPS可以确定元素种类、化学状态、化学键类型和含量等信息。此技术还可进行微区分析，检测深度小于10纳米，适用于分析块体或薄膜样品。由于XPS...
XPS对这个外层的探测过于表面敏感,反之HAXPES则可以同时提供来自外层表面和更深的催化层的信息。因此,利用HAXPES结合StrataPHI算法对薄膜结构进行了表征和计算,确定位于催化剂层之上的富含离子聚合物层的厚度约为25 nm(见图4)。 图4. HAXPES结合StrataPHI模型获取的离子聚合物/催化剂层界面的结构 为进一步研究离子聚合...