XPS是一种对固体表面进行定性、定量分析和结构鉴定的实用性很强的表面分析方法，它以X射线为探针，检测表面原子的内壳层发射的光电子获取表面丰富的物理和化学信息。XPS的特点包括：1、样品处理过程简单，元素覆盖信息广，对样品表面的损伤轻微。2、能提供丰富的表面化学信息，可作定量分析。3、相邻元素的...
XPS是表面敏感的分析方法，通常探测深度小于10nm。如果材料样品表面存在吸附层，在XPS可探测深度范围内，可...
SEM，TEM：显微成像。拉曼：光谱。XRD：衍射谱。XPS：能谱。气相色谱：气相色谱。
XPS的原理是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子。可以测量光电子的能量,以光电子的动能/束缚能 binding energy,(Eb=hv光能量-Ek动能-W功函数)为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关 2021-09-16 15:17 News ...
可以多看下文献，XRD主要是物相分析，SEM,TEM主要是样品形貌结构分析，XPS分析化学价态，表面分析分析 ...
可以多看下文献，XRD主要是物相分析，SEM,TEM主要是样品形貌结构分析，XPS分析化学价态，表面分析分析 ...