XPS是一种表面分析技术,可以用于确定材料的化学组成和物理性质。它通过测量材料表面的光电子能谱来确定元素的存在和相对浓度。 在XPS结合能标准手册中,详细介绍了各种元素的结合能值。这些值是基于理论计算和实验测量得出的,并被用作确定元素存在的标准。手册中还包含了如何正确使用XPS仪器进行测量和分析的信息,以及...
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其结合能可用作元素的指纹工具XPS标准谱图手册和数据库Au.PPT,二维化学状态图 Cu的常见化学态 Chemical state Binding energy Cu2p3/2 / eV Cu metal 932.6 Cu (I) oxide 932.7 Cu (II) oxide 933.1 Cu (II) carbonate dihydroxide 934.8 Cu (II) phthalocyanine 935.2 二维
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依据:元素定性的主要依据是组成元素的光电子线和俄歇线的特征能量值,因为每种元素都有唯一的一套芯能级,其结合能可用作元素的指纹。 工具:XPS标准谱图手册和数据库 Au、Cr、Mg的轨道列表: 如果谱图中有这些相同能量的峰出现,则可能含有该元素! 、数据采集-全扫描谱(Survey scan) ...