XPS探测的深度处于纳米级别，相较于XRD和EDS的微米级别探测，其灵敏度更高。XPS不仅能检测到样品表面的元素半含量与形态，还能达到10-3原子单层的超高灵敏度。其表面采样深度（d = 3λ）与多种因素相关，包括材料性质、光电子的能量，以及样品表面与分析器的角度。❒ 不同样品的取样深度 在实际应用中，金属样品...
百度试题 题目XPS的探测深度范围约() A.0~10nmB.0~50nmC.0~100nmD.0~1um相关知识点: 试题来源: 解析 A 反馈 收藏
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XPS的探测深度与()有关A.入射光能量B.样品材料性质C.入射光与样品的夹角D.探测器与样品的夹角的答案是什么.用刷刷题APP,拍照搜索答疑.刷刷题(shuashuati.com)是专业的大学职业搜题找答案,刷题练习的工具.一键将文档转化为在线题库手机刷题,以提高学习效率,是学习的生产力
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变角XPS探测深度公式d=3λsinφ叫什么名字？其中λ是什么意思？一般取值多少？φ是掠射角，是什么意思...
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