具体操作:1) 求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)。 将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。 3. 如何通过高...
2.xps图谱怎么分析 一般先解析出待分析样品电子能级的分布图谱,然后识别光电子能级位置来确定元素种类和化学价态。可通过实验数据获得样品电子束缚能信息,并利用该信息计算出各原子的化学键类型、状态和含量等,为分子与表面相互作用机理和动力学过程等提供了完整的物质表征。
XPS测化学组成成分，XRD测晶格结构或检测是否含有石墨结构。
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XPS测化学组成成分，XRD测晶格结构或检测是否含有石墨结构。
XPS & XRD 能测出物质什么信息,怎么分析测出来的图谱呢?960化工网专业团队、用户为您解答,有XPS & XRD 能测出物质什么信息,怎么分析测出来的图谱呢?的疑问
具体操作:1) 求取荷电校正值:C单质的标准峰位(一般采用284.8 eV)-实际测得的C单质峰位=荷电校正值Δ;2)采用荷电校正值对其他谱图进行校正:将要分析元素的XPS图谱的结合能加上Δ,即得到校正后的峰位(整个过程中XPS谱图强度不变)。 将校正后的峰位和强度作图得到的就是校正后的XPS谱图。