X射线光电子能谱(XPS)的基本原理: XPS技术起源于1887年德国物理学家赫兹发现的光电效应。即一定能量的X射线(常用的射线源是Mg Kα-1253. 6eV 或Al Kα-1486. 6eV) 照射到样品表面,和待测样品的表层原子发生作用,当光电子能量大于核外电子的结合能时,可以激发待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。 光...
样品深层产生的光电子在逸出表面的过程中会与样品原子发生非弹性碰撞而损失能量,只有表面或表面以下几个原子层中产生的光电子才会对XPS峰有贡献,所以XPS对表面分析的灵敏度很高。 仪器组成 X射线光电子能谱仪和样品制备 XPS仪由X射线激发源、样品台、电子能量分析器、检测器系统、超高真空系统等部分组成。 X射线源:...
XPS表征手册一般采用:Chastain, Jill, andRoger C. King, eds. Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy: a reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, MN: Physical Electronics, 1995. XPS数据库一般采...
1 原理XPS是利用 X 射线辐射样品，使得样品的原子或分子的内层电子或者价电子受到激发而成为光电子，通过测量光电子的信号来表征样品表面的化学组成、元素的结合能以及价态。X 射线光电子能谱技术作为一种高灵敏超微量的表面分析技术，对所有元素的灵敏度具有相同的数量级，能够观测化学位移，能够对固体样品的元素成分...
XPS原理。 XPS是X射线光电子能谱,是一种表面分析技术,它能够提供材料表面的化学成分和电子能级信息。XPS原理主要是利用材料表面吸收X射线光子后,内层电子被激发出来,通过测量这些激发出来的电子能量和数量,来分析材料表面的化学成分和电子能级结构。 首先,XPS原理是基于光电效应的。当材料表面吸收X射线光子时,光子能量足...
一、XPS基本原理 XPS是基于光电效应来进行表面分析的。当用特定能量的X射线照射样品表面时，光子将能量转移给原子或分子中的束缚电子，导致内层轨道上的电子被电离成自由电子。通过能量分析器和光电倍增管，我们可以检测出射电子的能量和数量，进而计算出样品的结合能。这些信息为我们提供了关于样品表面元素组成和化学态...
XPS原理是通过向物质表面射出X射线,使其核电子被射线击中而发生反弹,由物质表面释放出的能量势能可将表面电子激离,形成电子独立存在的“空间电子”,这些电子加上射 靶被击中的电子,形成回路,就能够在磁场和电场的作用下,将回路中电子束聚在仪器的探测管上。从探测管里就能收集电子,以此分析XPS数据。 XPS仪器中...
原位XPS 测试是基于 X 射线光电子能谱(XPS)的原理发展而来的。在常规的 XPS 中,X 射线照射样品表面,使得原子内层电子被激发而逸出,通过检测这些光电子的能量,能够获得样品表面元素的化学状态、化学键等重要信息。 而“原位” 这一特点使得原位 XPS 测试更具独特性和实用性。其关键在于能够在特定的环境条件下,如...
1. 基本原理及特点XPS技术起源于1887年德国物理学家赫兹发现的光电效应。即一定能量的X射线( 常用的射线源是MgKα-1253. 6eV 或AlKα-1486. 6eV) 照射到样品表面,和待测样品的表层原子发生作用,当光电子能量大于核外电子的结合能时,可以激发待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。光电子的发射过程如图1 ...