XPS 仪器 microCT 样品玻璃化 软件 附件 K-Alpha XPS 高分辨率 XPS 快速、高效、自动化的工作流程 用于深度剖析的离子源 手册下载 Nexsa G2 XPS 微焦点 X 射线源 独特的多技术选项 用于单原子和簇离子深度剖析的双模式离子源 下载数据表 ESCALAB QXi XPS ...
X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（B.E）。主要用途 XPS：...
XPS 常用Al Kα或者Mg Kα X 射线为激发源,能检测周期表中除氢、氦以外的所有元素,一般检测限为0.1%(原子百分数)。 XPS 之所以无法检测H,He 是因为:1) H 和He 的光电离界面小,信号太弱;2) H1s 电子很容易转移,在大多数情况下会转移到其他原子附近,检测起来非常困难; 3) H 和He 没有内层电子,其外层...
XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X 射线光电子能谱),是一种使用电子谱仪测量X - 射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。通过收集在入射X 光作用下,从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。一般以Al、Mg 作为X 射线的...
X-射线光电子谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称为XPS),经常又被称为化学分析用电子谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,简称为ESCA),是一种最主要的表面分析工具。 XPS作为当代谱学领域中最活跃的分支之一,它除了可以根据测得的电子结合能确定样品的化学成份外,XPS最重要的应用在于确定元素的化合...
【博仕检测XPS测试，欢迎咨询18802087095】辐射源： Al K alph 源，测试能量：1486.8ev，测试光斑面积： 30-500um，测试管电压 ：15kv，管电流：10mA，分析室本底真空：2*10-9 mbar深度剖析 ：EX06 离子源样品最大面积 ：60x60 mm 样品最大厚度 ：20 mm XPS测试样品要求：• XPS分析固体样品表面• 样品...
X射线光电子能谱仪(XPS) 设备型号:Nexsa 设备厂商:美国ThermoFisher 用途:用于元素组成分析、化学态分析、半定量分析、深度剖析 技术参数 1、能量分辨率及灵敏度: 能量分辨率≤0.5 eV 在束斑大小为400 μm且光源功率≤80W的实验条件下,当Ag3d5/2峰的半高宽≤1.0eV时,计数率≥4,000,000 cps ...
XPS中最简单的X射线源,就是用高能电子轰击阳极靶时发出的特征X射线。通常采用Al Kα(光子能量为1486.6eV)和Mg Kα(光子能量为1253.8eV)阳极靶,它们具有强度高,自然宽度小(分别为830meV和680meV)的特点。这样的X 射线是由多种频率的X 射线叠加而成的。为了获得更高的观测精度,实验中常常使用石英晶体单色器(利用...
1)XPS的分析信号:光电子能谱与俄歇能谱一样,都是仅能反映样品的表面成分信息。光电子能谱探测样品信息深度约为10-30个原子(3~10nm),而俄歇能谱检测深度约为3-10个原子层(0.4-5nm)。光电子能量具有特征值。 光电子谱线:峰位→元素的种类;峰面积→元素的...