1、第五节 X射线能谱分析 一般的化学分析方法仅能得到分析试样的平均成分,而在电子显微镜上却可实现与微区形貌相对应的微区分析,因而是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。 微区成分分析可直接使用电子探针仪进行。它专门用于试样的成分分析,它要求试样表面必须是光滑的。但光滑的表面对试样的...
当K电子被打出K层时，若L层电子来填充K空位，则产生Kα辐射。X射线的能量为电子跃迁前后两能级的能量差，即 hKWKWLhKhL X射线与物质的相互作用 当一束X射线通过物体后，其强度将被衰减，它是被散射和吸收的结果，并且吸收是造成强度衰减的主要原因。X射线的强度 ▪X射线衍射理论能将晶体结构与衍射花样有机地...
第18章X射线光电子能谱分析18.1引言固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料科学的研究,而XPS的应用面则...
,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料科学的研究,而XPS的应用面则广泛得多,更适合于化学领域的研究。SIMS和
目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面的固体材料科学的研究,而XPS的应用面则广泛得多,更适合于化学领域的研究。SIMS和ISS由于定量效果较差,在常规表面分析中的应用相对较少。但近年随着飞行时间质谱(TOF-...
【摘要】通过溶液研究、X射线衍射 (XRD) 和同步加速器 X 射线吸收近边缘结构 (XANES) 研究了黄铜矿和黄铁矿之间的电偶效应。 了解黄铜矿的溶解行为具有重要意义,因为黄铜矿是最丰富的铜源,但也是最难熔的硫化铜。因此,堆浸和原地浸出等低成本技术是采矿业的目标。堆浸和原地浸出的缺点是黄铜矿的溶解速度慢,且受...
材料试验方法X线衍射X射线光电子能谱 参考文献 [1] H.P.Klug,L.E.Alexander合著,盛世雄译,X射线衍射技术, 冶金工业出版社,1986 [2] 何崇智,郗秀荣等编,X射线衍射实验技术, 上海科学技术出版社, 1988 [4] 范雄主编,X射线金属学,机械工业出版社,1982 [5] 韩建成等编,多晶X射线结构分析, 华东师范大学...
光电子射线进样室激发源xps衍射 Page1第18章X射线光电子能谱分析18.1引言固体表面分析业已发展为一种常用的仪器分析方法,特别是对于固体材料的分析和元素化学价态分析。目前常用的表面成分分析方法有:X射线光电子能谱(XPS),俄歇电子能谱(AES),静态二次离子质谱(SIMS)和离子散射谱(ISS)。AES分析主要应用于物理方面...
X射线衍射仪与能谱仪综合介绍 X射线 1895年伦琴发现X射线。X射线和可见光一样属于电磁辐射，但其波长比可见光短得多，介于紫外线与射线之间，约为10–2到102埃的范围。X射线的频率大约是可见光的103倍，所以它的光子能量比可见光的光子能量大得多，表现出明显的粒子性。由于X射线具有波长短光子能量大这个基本...
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