X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法，又称X射线次级发射光谱分析，是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究。1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光...
X射线荧光分析技术的仪器主要由X射线源和能谱仪构成。X射线源一般采用X射线管或放射性源产生X射线束,激发样品产生荧光射线。能谱仪则用于检测和记录荧光光谱。常用的能谱仪有锗半导体探测器、硅锗探测器和多道分析仪等。这些仪器可以在短时间内进行准确的荧光光谱测量,并通过与已知标准样品进行比较,从而确定样品的成...
x-射线荧光分析 一、X-射线荧光的产生 creationofX-rayfluorescence 二、X-射线荧光光谱仪 X-rayfluorescencespectrometer 三、应用 applicationsX-rayfluorescencespectrometry 一、X-射线荧光的产生 creationofX-rayfluorescence 特征X射线荧光--特征X射线光谱 碰撞内层电子跃迁↑H 空穴 X射线荧光>次级X射线 (能量小)(...
X射线荧光分析概述 X射线荧光分析概述 (ED-XRF、WD-XRF、XES) 目前有许多方法可以激发和探测X射线荧光。激发和分析的选择取决于研究的科学和技术需求。 目前常用的三种息息相关的X射线荧光(XRF)分析方法为:能量色散XRF(ED-XRF),波长色散XRF(WD-XRF)和 X射线发射光谱(XES)。前两种技术是具有广泛工业和研究应用...
X射线荧光光谱分析法，利用原级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面，X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。简史 20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时...
荧光X射线分析又称X射线次级发射光谱分析。本法系利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生次级的特征X射线（X光荧光）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。历史背景 1948年由H.费里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一台波长色散X射线荧光分析仪，至60年代本法在...
X射线荧光分析的原理是基于样品受到X射线激发后,内部的原子会吸收部分能量并转换成特定能量的X射线,这些X射线称为荧光X射线。根据样品元素的不同,产生的荧光X射线的能量也不同。通过测量样品放射出的荧光X射线能谱,可以确定样品中各种元素的存在和含量。 X射线荧光分析的仪器主要包括X射线源、样品台、能谱仪以及数据...
X射线荧光分析基于X射线的两个基本原理:X射线激发和荧光发射。 首先,当物质受到高能X射线或γ射线的激发时,其原子吸收X射线的能量,电子从内层壳跃迁到外层壳。这个过程中,电子吸收的能量等于电子离开的能量差。能量差与特定的化学元素有关,所以每个化学元素都会有其特定的能级结构。 其次,受激的原子在极短的时间内...
X射线荧光分析法(X-ray fluorescence analysis),是对固体或液体试样进行化学分析的一种非破坏性物理分析法。试样在强X射线束照射下产生的荧光X射线被已知高点阵间距的晶体衍射而取得荧光X射线光谱。这种谱线的波长是试样中元素定性分析的依据;谱线的强度是定量分析的依据。