X-射线光电子能谱仪，是一种表面分析技术，主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线，如Al Ka =1486.6eV，与样品表面相互作用，利用光电效应，激发样品表面发射光电子，利用能量分析器，测量光电子动能(K.E)，根据B.E=hv-K.E-W.F，进而得到激发电子的结合能（B.E）。主要用途 XPS：...
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X光电子能谱仪是一种用于能源科学技术领域的分析仪器，于2010年10月1日启用。技术指标 最佳能量分辨率＜30 μm，最佳能量分辨率＜0.5 eV FWHM，C1s能量分辨率＜0.85 eV，离子源能量范围：100 eV至3 keV，最大束流：4 μA，在烘烤完成24小时后，分析室最佳真空：5×10-9 mbar。主要功能 测量固体材料表面...
随着第一台商业化 X 射线光电子能谱仪的问世，XPS 技术的应用范围迅速扩展。现代XPS不仅可以给出材料表面元素组成及其化学态（原子价态及化学环境变化）和元素相对含量信息，还可以提供表面横向与纵向深度分布信息，材料价带结构信息等等。基本原理 由 X 射线辐照样品而作用到原子时，其入射的光子有可能经历以下三个...
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