XPS表征手册一般采用:Chastain, Jill, andRoger C. King, eds. Handbook of X-ray photoelectron spectroscopy: a reference book of standard spectra for identification and interpretation of XPS data. Eden Prairie, MN: Physical Electronics, 1995. XPS数据库一般采用NIST XPS database: 1)http://srdata.ni...
X-射线光电子谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称为XPS),经常又被称为化学分析用电子谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,简称为ESCA),是一种最主要的表面分析工具。 XPS作为当代谱学领域中最活跃的分支之一,它除了可以根据测得的电子结合能确定样品的化学成份外,XPS最重要的应用在于确定元素的化合...
仪器介绍——X射线光电子能谱( X-ray photoelectron spectroscopy,XPS) 功能及应用介绍:X光电子能谱法是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,一般,其信息深度约为10nm以内。如果辅以离子刻蚀手段,再利用XPS作为分析方法,则可以实现对 样品的深度分析。可以分析除 H 和 He 以外的所有元素;可以直接测...
X-射线光电子谱仪(X-ray Photoelectron Spectroscopy,简称为XPS),经常又被称为化学分析用电子谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis,简称为ESCA),是一种最主要的表面分析工具。 XPS作为当代谱学领域中最活跃的分支之一,它除了可以根据测得的电子结合能确定样品的化学成份外,XPS最重要的应用在于确定元素的化合...
9 C. D. Wagner, Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy (Perkin-Elmer Corporation, 1979). 10 XPSSurfA Online collaborative surface analysis database, see:https://cmsshub.latrobe.edu.au/xpsdatabase/spectra/view_many. 11 XPS Simplified. Thermo Scientific XPS website athttp://www.xpssimpli...
一、分析原理 用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的特征X射线。分析特征X射线的波长（或能量）...
What is X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)? XPS can measure the elemental composition, empirical formula, chemical state, and electronic state of the elements within a material. XPS spectra are obtained by irradiating a solid surface with a beam of X-rays while simultaneously measuring the kin...
X-ray photoelectron spectroscopy enables XPS surface analysis, providing elemental composition and the chemical/electronic state of the top 10 nm of a material.
XPS,全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X 射线光电子能谱),是一种使用电子谱仪测量X - 射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。通过收集在入射X 光作用下,从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。一般以Al、Mg 作为X 射线的...
X-ray photoelectron spectroscopy depth profiling with ion beam etching. Contact usJoin the conversation XPS depth profiling Experimental arrangement for a depth-profile experiment. Monatomic depth profiling uses an ion beam to etch layers of the surface or surface contamination, revealing...