X荧光光谱仪是用于对X荧光进行检测的仪器。该仪器由激发源和探测系统构成。X射线管产生入射X射线，激发被测样品，产生X荧光，探测器对X荧光进行检测。技术原理 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线...
位于某壳层的电子被激发称为某系激发,产生的特征荧光X射线辐射称为某系谱线。实际的物理过程十分复杂,例如L层有三个支能级,其中L1能级稳定,不产生跃迁,电子会由LII、LIII向K层跃迁,分别产生Kα1和Kα2。 2 EDXRF基本结构和工作原理 2.1 EDXRF基本结构 2.2 X光管的结构与工作原理 2.3 探测器 2.3.1 主要技术指...
X射线荧光分析仪（XRF），作为一种高效且无损的物质测量工具，广泛应用于电子电器产品中限用物质的初筛检测。其分光方式可分为能量色射与波长色射两大类，即能谱仪（EDXRF）与波谱仪（WDXRF）。本文将重点阐述能谱仪的工作原理。2. XRF基础知识 1.1 特征X射线的产生在XRF（X射线荧光）分析中，特征X射线的产生...
X射线荧光光谱仪（XRF）进行定量分析时，主要依据的原理是元素的荧光X射线强度与试样中该元素的含量之间存在直接的正比关系。这一原理构成了X射线荧光光谱仪定量分析的基础，其具体解释如下： 一、荧光X射线的产生 当X射线照射到样品上时，样品中的原子会吸收X射线能量，使得原子内层电子被激发至高能态。随后，这些...
X射线荧光的物理原理 当材料暴露在短波长X光检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的...
X射线荧光光谱分析仪的原理是这样的:它用X射线照射试样,试样会被激发出各种波长的荧光X射线。然后,仪器会把这些混合的X射线按波长或能量分开,分别测量不同波长或能量的X射线的强度,从而进行定性和定量分析。简单来说,就是通过测量试样被激发出的荧光X射线的特性,来确定试样的元素组成和含量。
X射线荧光分析仪是一种常用的无损分析仪器,它通过测定物质所发射的特征X射线来确定样品的化学成分和元素含量。其原理是利用激发样品产生X射线,然后通过X射线探测器测量样品发射的特征X射线能谱,从而分析出样品的元素成分和含量。 X射线荧光分析仪的原理主要包括激发和检测两个部分。首先是激发部分,通过X射线管产生一定...
首先,X射线荧光分析仪由X射线发生器、样品台、能谱仪和数据处理系统等组成。X射线发生器产生高能X射线,照射到样品上时,样品中的原子会吸收X射线并发出荧光X射线。能谱仪用于测量荧光X射线的能量和强度,数据处理系统则对测得的信号进行处理和分析。 其次,X射线荧光分析仪原理基于样品吸收入射X射线后,激发产生荧光X...