主要使用X射线束激发荧光辐射，第一次是在1928年由格洛克尔和施雷伯提出的。到了现在，该方法作为非破坏性分析技术，并作为过程控制的工具，广泛应用于采掘和加工工业。原则上，最轻的元素，可分析出铍（z=4），但由于仪器的局限性和轻元素的低X射线产量，往往难以量化，所以针对能量分散式的X射线荧光光谱仪，可以...
X荧光光谱仪的原理是基于X射线荧光(XRF)分析的。当样品受到X射线激发后,原子中的电子会被激发到高能态。当这些电子回到低能态时,会释放出X荧光,即X射线。通过测量这些X射线的能量和强度,可以确定样品中元素的种类和浓度。 具体来说,X荧光光谱仪的工作流程如下: 1.X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品...
X射线荧光光谱仪主要由以下几部分组成:激发系统、分光系统、探测系统、仪器控制和数据处理系统。 激发系统:主要部件为X射线管,可以发出原级X射线(一次X射线),用于照射样品激发荧光X射线。 分光系统:对来自样品待测元素发出的特征荧光X射线进行分辨(主要为分光晶体)。 探测系统:对样品待测元素的特征荧光X射线进行强度探...
原理用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。 仪器构造激发光源 两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内...
不同元素的荧光X射线具有各自的特定波长，因此根据荧光X射线的波长可以确定元素的组成。如果是波长色散型光谱仪，对于一定晶面间距的晶体，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分。事实上，在定性分析时，可以靠计算机自动识别谱线，给出定性结果。但是如果元素含量过低或存在元素间的谱线干扰时，...
X射线荧光光谱仪(XRF)基本原理: XRF工作原理是X射线光管发出的初级X射线激发样品中的原子,产生特征X射线,通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(或能量)和强度,可以获得样品中的元素组成与含量信息,达到定性定量分析的目的。 X射线是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能量范围在0.1~100 keV的光子...
X荧光光谱仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是:X射线管通过产生入射X射线(一次X射线),来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光),并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。
X射线荧光光谱分析仪的工作原理是这样的:它主要是用X射线照射试样,试样被激发出各种波长的荧光X射线,然后仪器会把这些混合的X射线按波长或能量分开,分别测量不同波长或能量的X射线的强度,从而进行定性和定量分析。简单来说,就是通过分析试样被激发出的荧光X射线的特性,来确定试样的元素组成和含量。