型号 WPA-200 应力双折射测量系统 WPA系列可测量相位差高达3500nm,适合PC高分子材料,是Photonic lattic公司以其的光子晶体制造技术开发的产品,独特的测量技术,使其成为*的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量,全面掌握应力分布。WPA-200型更是市场上的万能机器,适合用来测量光学薄膜或透...
WPA-200是Photonic lattic公司采用自研的光子晶体技术,可测量相位差(光程差)、可快速自动测量应力双折射的大小、方向和分布面测量、可一次测量视野范围内样品的全部数据具备点、线、面、3D的分析功能三波长可量测0-3500nm,可拓展至10000nm可输出光程差(nm)、偏振角度(°)、应力(Mpa)、应力双折射(nm/mm)。数秒给...
WPA-200 系列通常可测量 0-3500nm 的相位差，如果您的样品相位差超出这个范围，可能需要考虑其他型号或特殊定制。例如，普通光学零件、透明树脂材料等的相位差测量一般在该仪器的测量范围内，但对于一些特殊的、具有极高相位差的材料，要确保仪器适用。测量精度要求：如果您的应用对测量精度要求极高，需要关注仪器的测...
WPA-200 相位差方向轴测试仪基于先进的相位测量技术。其核心原理是通过对输入信号的相位进行精确检测和比较，从而确定相位差和方向轴的信息。该测试仪采用高精度的传感器和信号处理电路，能够将微弱的相位变化转化为可测量的电信号。通过复杂的算法和数学模型，对这些电信号进行分析和计算，最终得出准确的相位差和方向轴...
日本PHL双折射应力仪WPA-200是一款高性能的光学测量仪器，以下是关于它的详细介绍：1. 技术原理：• 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化。该仪器通过比较光穿透物体前后的偏光状态，来评估物质的双折射情况。其装配的偏光感应器采用了日本PHL公司特有的光子晶体技术，能瞬间将偏光信息以影像...
Wpa-200 是一款专为大尺寸离型膜设计的先进相位差测试仪。它采用了最前沿的测量技术，能够以超高的精度和灵敏度，快速准确地测量离型膜的相位差，为您的生产和研发提供可靠的数据支持。其卓越的性能体现在以下几个方面：精准无误：凭借先进的光学系统和精密的传感器，Wpa-200 能够实现微小相位差的精确测量，确保测量...
WPA-200双折射相位差测试仪工作原理 WPA-200 双折射相位差测试仪的工作原理是基于偏振光的特性和光学补偿原理。当光穿透具有双折射特性的透明物质时，其偏光状态会发生变化。该测试仪装配的偏光感应器，使用了独特的光子晶体技术组装而成，能瞬间将偏光信息以影像方式提取保存。然后，再搭配专属的演算、图像处理软件，对...
WPA-200双折射应力仪的另一个显著特点是其广泛的适用性。该设备可用于测量多种透明材料和薄膜的相位差、双折射和内部应力应变分布，包括但不限于玻璃、蓝宝石、镜片、薄膜等。这种广泛的适用性使得WPA-200在光学、材料科学、半导体等多个领域都具有重要的应用价值。双折射测量仪WPA-200特点 操作简单，测量速度可以快...
WPA-200应力测试基于应变测量原理,通过测量被测试材料或结构在外部加载下的应变量,从而计算出其所受的应力。其原理基于背散射光纤传感技术,通过光纤传感器和测量仪器的配合,实现对应力的精确测量。 二、工作过程 1. 准备工作:首先,需要对被测试材料或结构进行表面处理,确保其表面平整且无杂质。然后,将光纤传感器安装在...
WPA-200 双折射应力仪是一款进口的残余应力测量设备，具有以下性能特点：• 测量范围广：可测量相位差高达3500nm，适用于多种透明材料和薄膜。• 测量速度快：测量速度可以快到3秒，能够快速获取测量结果。• 操作简单：采用CCD Camera，视野范围内可一次测量，操作简便。• 数据分析功能强大：测量数据是二维分布...