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WLP-206 平均粒度测定仪 可按需定制粒度仪费氏仪 ¥ 100000.00 费氏仪器标准压力校准 可定制YXQ-100压力校正器 ¥ 1000.00 费氏粒度仪生产商 WLP-208B平均粒度测定仪 售后无忧 ¥ 100000.00 WLP-208A平均粒度测定仪 费氏仪 配置压力校正器 ¥ 100000.00 商品描述 价格说明 联系我们 咨询底价 品牌: 费...
WLP-208A系列为第四代气体透过法粒度测定仪(平均粒度仪),是测定金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、食品、制药、核工业、以及表面技术的各种粉末粒度和比表面积的测定。本仪器结构简单,操作方便,仪器有快速计算板,不需要复杂计算,测定一次只需3~5分钟。
平均粒度测定仪 费氏粒度仪 型号:WLP-208A 该仪器是在WLP-205型仪器上增加了压力校正器。采用这套工具使被压紧的粉末材料达到相同的紧密程度(任何人都可达到相同的压紧程度),从而使测试更加简便、而且消除了人为误差。其它主要技术指标与WLP—205型平均粒度测定仪相同。 该型号仪器除兼容了WLP-208平均粒度测定仪各...
平均粒度测定仪/费氏粒度仪/弗氏细筛/弗氏仪 型号:DP-WLP-208A 该仪器是在DP-WLP—205型仪器上增加了压力校正器。采用这套具使被压紧的粉末材料达到相同的紧密程度(何人都可达到相同的压紧程度),从而使测试更加简便、而且消除了人为误差。其它主要标与DP-WLP—205型平均粒度测定仪相同。该型号仪器除兼容了DP-...
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丹东平均粒度仪WLP-208A WLP-208 WLP-205 费氏粒度仪也叫平均粒度仪和空气透过法粒度测定仪,是测量粉末平均粒度的实验室型仪器,仪器主要原理是利用空气透过法产生的压力降来计算粉末的平均粒度,平均粒度仪只能测量粉末的平均粒度,不能测量具体的粉末粒度。和激光粒度仪测试的方法截然不同。
平均粒度测定仪TVC-WLP-208A 该仪器是在TVC-WLP—205型仪器上增加了压力校正器。采用这套工具使被压紧的粉末材料达到相同的紧密程度(任何人都可达到相同的压紧程度),从而使测试更加简便、而且消除了人为误差。其它主要技术指标与TVC-WLP—205型平均粒度测定仪相同。 平均粒度测定仪TVC-WLP-208A 该型号仪器除...
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