VB XPS测得价带位置Ev; UPS可测得材料的功函数Wf; 图2、 半导体的能级示意图 01 紫外可见漫反射测试计算带隙Eg 方法一、截线法。 截线法是一种简易的求取半导体禁带宽度的方法,依据原理是半导体的吸收阈值λg和其禁带宽度Eg成反比,两者之间关系式如下: ...
检测类型 UPS测试 样品 块体或薄膜 粉末样品 实验室制样一般压缩在导电胶上 尽量注明膜厚度 测试时作为参考 UPS的光斑大小 一般是1*1-3*3mm 默认激发源 采用HeI(21.22eV) 其他要求 请联系技术经理确认 收费方式 先测后付 售后保障 免费复测 服务范围 全国 总部 成都 科研团队 500人 人员学历...
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请问下：从这个ups价带谱，如何分析cu的添加对fe合金电子结构的影响？vbm更低能说明什么？另外，在网上...
请问谁可以告诉我UPS可以得的信息 然后和XPS的价带谱有什么相同点以及不同点
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