其中,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H的H2生成速率高达2708.2 μmol g−1 H−1,是UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-NO2的222倍。机理研究表明,UiO-66-X壳层作为微环境参数,反向调控UiO-66-NH2(光敏剂)核的激子结合能和Pt(助催化剂)上的质子还原速率,因此位于平衡点的UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H具有最佳的光催化活性。
图9.去除Hg0前后UiO-66-Br@MBC (1:1) 的XPS光谱:(a) Br 3d、(b) O 1s、(c) Fe 2p、(d) Ce 3d、(e) Zr 3d和 (f) Hg 4f。 通过不同反应途径去除的Hg0以多种形态共存于样品表面。为明晰去除途径及对应的汞形态,...
其中,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H的H2生成速率高达2708.2 μmol g−1 H−1,是UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-NO2的222倍。机理研究表明,UiO-66-X壳层作为微环境参数,反向调控UiO-66-NH2(光敏剂)核的激子结合能和Pt(助催化剂)上的质子还原速率,因此位于平衡点的UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H具有最佳的光催化活性。
其中,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H的H2生成速率高达2708.2 μmol g−1 H−1,是UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-NO2的222倍。机理研究表明,UiO-66-X壳层作为微环境参数,反向调控UiO-66-NH2(光敏剂)核的激子结合能和Pt(助催化剂)上的质子还原速率,因此位于平衡点的UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H具有最佳的光催化活性。
X射线光电子能谱(XPS)分析表明,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-X遵循-NO2<-Cl < -Br < -H < -NA < -OCH3的顺序,与-X官能团给电子能力的增加一致。通过电化学析氢反应(HER)测量,作者评估了复合材料中Pt表面的固有质子还原能力。过电位值随着Pt电子密度的增加而降低,表明表面反应效率(η3)呈现-OCH3> -NA >...
图4. UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H的表征 机理研究 X射线光电子能谱(XPS)分析表明,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-X遵循-NO2<-Cl < -Br <-H< -NA < -OCH3的顺序,与-X官能团给电子能力的增加一致。通过电化学析氢反应(HER)测量,作者评估了复合材料中Pt表面的固有质子还原能力。过电位值随着Pt电子密度的增加而...
electron microscopy (T E M), and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS). The composite materials were used in the photocataytic degradation of Rhodamine B dye and catalyzing the cycloaddition reaction of C02 with epoxide.The results showed that the silver nanoparticles supported Ui〇-66 composite ...
图4. UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-H的表征 机理研究 X射线光电子能谱(XPS)分析表明,UiO-66-NH2@Pt@UiO-66-X遵循-NO2<-Cl < -Br < -H < -NA < -OCH3的顺序,与-X官能团给电子能力的增加一致。通过电化学析氢反应(HER)测量,作者评估了复合材料中Pt表面的固有质子还原能力。过电位值随着Pt电子密度的增加...
在 UIO-S0.6的O 1s 的结合能高于 UIO-66,UIO-S0.6中的O原子作为碱性位点来平衡路易斯酸位点Zr4+,形成-Ar-O-Zr-O-Ar-基团。此外,通过CO2和NH3-TPD证明UIO-S0.6具有更高的酸性和碱性位点。 图1.(a) UIO-66 and UIO-Sx的XRD图,...
此外,我们还通过X射线光电子能谱(XPS)分析复合材料表面的元素组成和化学状态。 四、选择性催化氧化H2S性能研究 我们将UiO-66基复合材料应用于H2S的选择性催化氧化实验中,通过改变反应温度、气体流量等条件,研究复合材料对H2S的催化氧化性能。实验结果表明,UiO-66基复合材料具有良好的H2S催化氧化性能,且具有较高的选择...