TSP-2000R 四探针法测试电阻率(半导体解决方案) 四探针法测量半导体电阻率方案 系统背景 电阻率是决定半导体材料电学特性的重要参数,为了表征工艺质量以及材料的掺杂情况,需要测试材料的电阻率。半导体材料电阻率测试方法有很多种,其中四探针法具有设备简单、操作方便、测量精度高以及对样品形状无严格要求的特点。因此,目前...