■在故障模式下,可观测到OPEN时为正的反射脉冲波,SHORT时为负的反射脉冲 ■本系统使用的探针信号是Impulse(电子脉冲)的关系,用脉冲的峰值位置来判断故障点位置就变得容易 PART 04 分析显示功能 TS9001TDR系统作为[TDRAnalyzer]的标准设备。 用差异显示Reference(良品)和Sample(不良品)波形以外,也可以检测出波形的变...
■在故障模式下,可观测到OPEN时为正的反射脉冲波,SHORT时为负的反射脉冲 ■本系统使用的探针信号是Impulse(电子脉冲)的关系,用脉冲的峰值位置来判断故障点位置就变得容易 PART 04 分析显示功能 TS9001TDR系统作为[TDRAnalyzer]的标准设备。 用差异显示Reference(良品)和Sample(不良品)波形以外,也可以检测出波形的变...
产品推荐：ADVANTEST TDR分析系统TS9001 在半导体封装的可靠性分析方面，TS9001 TDR分析系统提供了解决方案。通过先进的THz信号和MPI精密探针台，实现无损、高精度的分析，适用于各种封装类型，包括先进封装的bump和TSV连接。TS9001利用自主研发的短脉冲信号处理技术，实现高速、高分辨率的TDR测量，帮助定位先进...
针对这一需求，ADVANTEST推出的TDR分析系统TS9001在先进封装bump以及TSV连接可靠性测试中表现出色。此系统通过利用自主研发的短脉冲信号处理技术，实现高分辨率的TDR测量，提供无损且高精度的测试表征，适用于大规模阵列封装BGA、晶圆等级、2.5D/3.5D等先进封装的故障分析。TS9001的亮点在于其独特的功能：高速...
TS9001TDR系统通过利用我公司自主研发的短脉冲信号处理技术的高分辨率的TDR测量(时域反射测量),高速高精度的无损分析,检测出先进半导体封装内的布线故障定位。另外,我们的TS9001系统可与MPI探针台系统连接,为测试体形状(晶圆,IC)和故障分析环境提供灵活的解决方案。 技术优势: 1、高速&高分辨率测量 ● 可应对大规模阵...
TS9001 TDR系统可对倒装芯片BGA,晶圆级封装和2.5D / 3D 芯片等先进半导体封装中的电路故障进行非破坏性和高分辨率分析。 基于太赫兹技术的先进封装失效分析 高速,高分辨率测量 采用超短脉冲信号处理技术,具备5μm更高故障定位分辨率 业界最快的30秒级测量时间,可实现精确的故障位置识别(平均次数1024时,是传统产品的1...
价格 ¥ 1000.00 ¥ 10000.00 起订数 1台起批 1台起批 发货地 上海 商品类型 仪器仪表 、 分析仪器 、 其他分析仪器 商品关键词 TS9001TDR先进封装时域失效分析系统、 先进封装时域失效分析系统、 TDR分析系统、 半导体封装布线故障分析系统、 封装故障分析 商品...
客户培训为IC测试工程师提供的各种课程 太赫兹光谱成像分析平台 TAS7500TS TAS7400TS TAS7400TS High Frequency Resolution Option Optical set (optional) TAS7500系列太赫兹光谱分析系统 TAS7500SP TAS7500SU TAS7500SL 太赫兹光谱分析系统 TAS7400 TS9001 TDR系统 ...
由于电子设备的小型化与高密度集成结构技术发展,在半导体封装的故障分析上对应各种各样的分析条件和优化分析环境的系统的需求越来越多TS9001TDR系统通过利用我公司自主研发的短脉冲信号处理技术的高分辨率的TDR测量(时域反射测量)高速高精度的无损分析,检测出先进半导体封装内的布线故障定位。另外,我们的TS9001系统可与MPI...