TS-1的物性表征——XRD(X 射线粉末衍射) XRD是表征TS-1的最基本的手段之一,通过XRD谱图能够获得TS-1晶体结构、结晶度高低及晶胞参数等信息。衍射角2q=7.8°,8.8°,23.2°,23.8°,24.3°的五个衍射峰为具有MFI拓扑结构的分子筛的特征衍射峰,通常根据这五个衍射峰的强度之和计算分子筛的相对结晶度。TS-1的
求助大佬，求TS-1分子筛XRD的PDF标准卡片。。。？
请教钛硅分子筛TS-1 XRD粉末衍射，2θ=7.8°、8.8°、23.2°、23.8°、24.3° 峰的归属。2...
图1 光催化剂SnO2/TS-1的XRD图谱(SnO2负载量42%) Fig. 1XRD patterns of photocatalyst SnO2/TS-1 图2a和2b为催化剂SnO2/TS-1的扫描电镜(SEM)照片,图 2c为TEM图片.由图可知, 采用超声溶胶凝胶法制备的SnO2/TS-1(SnO2负载量42%)为圆球状.从图 2b可以清晰看到SnO2负载在钛硅分子筛TS-1上, 从图 2c...
应该选用ZSM-5 还是silicalite -2 作为标准卡片？？