产品说明 内置VREF 的灌电流/拉电流抗辐射加固 是否跨境出口专供货源 否 包装 盒装 可售卖地 全国 用途 军工 类型 稳压IC 型号 TPS7H3301-SP 货号 TPS7H3301-SP 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成
型号 TPS7H3301-SP 深圳市硅诺电子科技有限公司是中国著名的电子元器件经销商之一,本公司专业经营集成电路IC产品,是ADI/TI/MAX/ST/ALTERA/Xilinx等进口品牌的国内特约经销商,经过多年的发展成为中国较大的IC产品经销商 ,公司业务全程使用先进的ERP系统进行管理。公司经营产品涉及广泛全面,尤其在集成电路IC、单片机、...
TPS7H3301-SP是一款内置VREF的TID和单粒子效应(SEE)抗辐射加固型双倍数据速率(DDR)3A终端稳压这个稳压器专门用于为空间DDR终端应用(如单电路板计算机,固态记录器和载荷处理应用)提供一套完整的紧凑型,低噪声解决方案。 TPS7H3301 -SP支持并兼容DDR,DDR2,DDR3,DDR4以及相关的低功耗JEDEC规范。凭借快速瞬态响应,TPS7...
https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1219198/tps7h3301-sp-tps7h3301-sp 器件型号:TPS7H3301-SP 您好! 我有几个与该 IC 的稳定性相关的问题。 我将从 EVM 开始、然后继续进行我的设计。 1) 1)在 EVM 中、我...
器件型号:TPS7H3301-SP 您好! 在第8.2.2.4节中、出现以下情况:"考虑在 VTTSNS 引脚上添加一个低通 R-C 滤波器、以防 VTT 输出电容器的 ESR 大于2m Ω。 R-C 滤波器时间常数应大致等于或略低于 VTT 输出电容和 ESR 的时间常数。" 我的电路的输出 ESR 大于2m Ω。 我的电路中使用的...
型号 TPS7H3301-SP 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以订单结算页价格为准。 抢购价:商品参与营销活动的活动价格...
TPS7H3301-SP_016 1Mb/28PSink and Source Radiation-Hardened 3-A DDR Termination Regulator With Built-In VTTREF Buffer More results Texas Instruments(TI)是一家公开交易的公司,设计和制造半导体和计算机技术产品。 它成立于1930年,总部位于德克萨斯州达拉斯。
TPS51200-Q1 1Mb/36PSink and Source DDR Termination Regulator TPS7H3301-SP_016 1Mb/28PSink and Source Radiation-Hardened 3-A DDR Termination Regulator With Built-In VTTREF Buffer TPS51200-Q1 951Kb/36PSINK/SOURCE DDR TERMINATION REGULATOR ...
TPS7H3301-SP 的特色 5962R14228(1): Radiation hardness assurance (RHA) qualified to total ionizing dose (TID) 100 krad(Si) Single event latch-up (SEL), single event gate rupture (SEGR), single event burnout (SEB) immune to LET = 70 MeV-cm2/mg(2) ...
Radiation Report SLVK037 – April 2019 TPS7H3301-SP Neutron Displacement Damage Characterization ABSTRACT This report presents the effect of neutron displacement damage (NDD) on the TPS7H3301-SP device. The results show that all devices were fully functional and within production test limits after ...