由图6可得,没有经过退火处理的芯片在金属半导体界面内,各元素没有明显的相互扩散现象,氧元素强度基本稳定。退火处理后的芯片有着明显的元素扩散现象。 6.4 3D分析 通过综合质谱、二维成像、深度分析的数据,可以实现样品成分的三维成像,得到3D图。通过3D图可以分析样品结构、缺陷等信息。如图7所示,为一个未知样品的3D...
图a,b为在E-Control和NaTFSI/SUL:OTE:FEC中测试了20个循环的NaNMF阴极的TOF-SIMS深度分布(归一化为最大值)。TOF-SIMS 3D图像表明,在NaTFSI/SUL:OTE:FEC中形成的CEI更均匀、更薄,而E-Control 显示存在不均匀和松散的厚CEI。E-Contr...
该工作于近期发表在国际顶级期刊Polymer Testing(Polymer Testing114 (2022) 107684)上。 图5. 纤维涂层样品的XPS表征[3] TOF-SIMS可以对样品的无机和有机组分进行检测,通过分析激发态分子/离子碎片确定样品的组分,并通过2D和3D重建技术获取化学成分的空间分布。特别是2D图像可以直接揭示膜层的晶界分布,3D膜层成像则...
速度:飞行时间质谱仪的工作速率远高于其他质谱技术,ToF SIMS仪器可以每秒1000像素的速度运行。 3D成像:通过在同一区域上多次扫描表面并去除少量物质,ToF SIMS能够逐层建立材料的3D地图。 灵敏度:由于斑点尺寸小且撞击坑浅,这需要非常小心地防止信号丢失。因此,SIMS通常比其他形式的质谱法更灵敏。 动态范围:ToF SIMS光谱...
3D成像:通过在同一区域上多次扫描表面并去除少量物质,ToF SIMS能够逐层建立材料的3D地图。 灵敏度:由于斑点尺寸小且撞击坑浅,这需要非常小心地防止信号丢失。因此,SIMS通常比其他形式的质谱法更灵敏。 动态范围:ToF SIMS光谱中离子范围广泛,从单个氢离子到几千道尔顿大小的完整蛋白质分子都可覆盖。
3D成像:通过在同一区域上多次扫描表面并去除少量物质,ToF SIMS能够逐层建立材料的3D地图。 灵敏度:由于斑点尺寸小且撞击坑浅,这需要非常小心地防止信号丢失。因此,SIMS通常比其他形式的质谱法更灵敏。 动态范围:ToF SIMS光谱中离子范围广泛,从单个氢离子到几千道尔顿大小的完整蛋白质分子都可覆盖。
558 -- 3:47 App TOF-SIMS TOF-DR软件-18-如何进行3D图多个离子叠图操作 476 -- 2:28 App TOF-SIMS常见问题回复-6-TOF-SIMS定量-A:谱峰强度是否代表含量 454 -- 2:36 App TOF-SIMS TOF-DR软件-13-Overlay叠图MAPPING 操作 568 -- 2:05 App TOF-SIMS TOF-DR软件-5-图谱分析之元素和分子质量...
TOF-SIMS 具有很好的质谱分辨率和空间分辨率,在进行 3D 化学成分表征时也有极大的优势。在着重于表面分析、薄膜或薄层的成分的科技领域,TOF-SIMS 是最佳的表征手段。 同位素分子式 欢迎客户朋友们预约测样! 后记:清华大学深圳国际研究生院...
TOF-SIMS深度剖析(3D 成像):锂电池极片表面SEI层的成分和厚度 TOF-SIMS是一种质量分辨并兼具时空分辨的技术。传统的电化学研究手段与ToF-SIMS结合,能够快速直接原位(ms级)鉴定电化学反应微量的中间体/产物(ppm水平甚至更低浓度),并同时关联化学信息和电极/电解液界面空间信息,为揭示完整的电化学界面反应物理化学图像...
TOF-SIMS可以分析所有的导体,半导体,绝缘材料; TOF-SIMS的分析深度2nm左右,横向空间分辨率可达70nm; 能鉴别高质量数的有机大分子;探测灵敏度很高,可以达到ppb~ppm量级;结合不同溅射离子源,TOF-SIMS可进行2D和3D成像来表征成分的分布;对于材料表面成分及分布,表面多层结构/镀膜成分,表面异物残留(污染物、颗粒物、腐...