图a,b为在E-Control和NaTFSI/SUL:OTE:FEC中测试了20个循环的NaNMF阴极的TOF-SIMS深度分布(归一化为最大值)。TOF-SIMS 3D图像表明,在NaTFSI/SUL:OTE:FEC中形成的CEI更均匀、更薄,而E-Control 显示存在不均匀和松散的厚CEI。E-Contr...
TOF-SIMS结合了二次离子质谱和飞行时间器的功能,提高了检测样品元素成分和分布的准确性。 TOF-SIMS横向和纵向的分辨率高且质谱提供的灵敏度高,可以分析元素、同位素、分子等信息。 这些特点使得TOF-SIMS成为表面分析的主要技术之一,可以提供EDX、AES、XPS等技术无法提供的元素信息[3]。 3.2 分类 二次离子质谱主要有两...
图2. 固体电解质界面膜(SEI)的TOF-SIMS 3D图像[2] 成果二、TOF-SIMS对耐水洗ZnO/磷腈-硅氧烷纤维涂层的多维表征 尼龙织物涂层因为耐洗性差,严重限制了它们的应用,成为其发展道路上的巨大阻碍。对耐水洗纤维涂层的微观结构解析有助于进一步提升其性能。鉴于此,北京理工大学先进材料实验中心的宋廷鲁博士通国家阻燃材...
3D成像:通过在同一区域上多次扫描表面并去除少量物质,ToF SIMS能够逐层建立材料的3D地图。 灵敏度:由于斑点尺寸小且撞击坑浅,这需要非常小心地防止信号丢失。因此,SIMS通常比其他形式的质谱法更灵敏。 动态范围:ToF SIMS光谱中离子范围广泛,从单个氢离子到几千道尔顿大小的完整蛋白质分子都可覆盖。 应用:ToF SIMS具有...
飞行时间二次离子质谱法(ToF SIMS)是一种用于研究固体表面和薄膜的三维化学组成的表面分析技术。 聚焦的一次离子束轰击目标表面,产生中性原子/分子、二次离子和电子。二次离子通过飞行时间质谱仪进行收集和分析。质谱仪通过精确测量离子到达探测器所需的时间(即“飞行时间”)来测量离子的质荷比(m/z)。
TOF-SIMS TOF-DR软件-16-如何回溯特定深度(膜层)的质谱图或MAPPING图。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!
速度:飞行时间质谱仪的工作速率远高于其他质谱技术,ToF SIMS仪器可以每秒1000像素的速度运行。 3D成像:通过在同一区域上多次扫描表面并去除少量物质,ToF SIMS能够逐层建立材料的3D地图。 灵敏度:由于斑点尺寸小且撞击坑浅,这需要非常小心地防止信号丢失。因此,SIMS通常比其他形式的质谱法更灵敏。
TOF-SIMS可以分析所有的导体,半导体,绝缘材料; TOF-SIMS的分析深度2nm左右,横向空间分辨率可达70nm; 能鉴别高质量数的有机大分子;探测灵敏度很高,可以达到ppb~ppm量级;结合不同溅射离子源,TOF-SIMS可进行2D和3D成像来表征成分的分布;对于材料表面成分及分布,表面多层结构/镀膜成分,表面异物残留(污染物、颗粒物、腐...
TOF-SIMS 可以用于轻元素检测,其检出限可达 ppm 级别。 TOF-SIMS 具有很好的质谱分辨率和空间分辨率,在进行 3D 化学成分表征时也有极大的优势。在着重于表面分析、薄膜或薄层的成分的科技领域,TOF-SIMS 是最佳的表征手段。 同位素分子式 ...
TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 TOF-SIMS具有极高分辨率,可以提供表面,薄膜,界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息,其特点在二次离子来...