不能。TOF-SIMS静态二次离子质谱测试离子强度,为定性测试,不能定量。 TOF-SIMS中,质谱测试溅射厚度是多深? 一般溅射厚度为2到3层原子,小于1nm。 灰分测试 已预约1119次 平均周期9天 |99.85%满意度 硫化氢分析仪 已预约1484次 平均周期5天 |99.85%满意度 ...
后记:清华大学深圳国际研究生院材料与器件检测技术中心作为深圳市规模较大的高校共享实验平台,依托平台先进的设备优势、专业技术优势以及人才优势,致力于充分整合利用资源,为高校科研教学与社会企事业服务。欢迎朋友们咨询、预约测试技术服务。欲获取更多详情请...
TOF-SIMS测试 仪器型号TOF-SIMS 5 iontof ,PHI NanoTOFII 预约次数3224次 服务周期收到样品后平均2.8-6.0工作日完成 立即预约 项目简介 可做项目:质谱、面扫、深度剖析。 TOF-SIMS的数据的纵坐标是计数,是强度,不同离子的产额不同,产额高的谱峰强,并不代表含量高,简单说就是强度和含量没有什么直接关系; ...
试运行 | 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)试运行通知 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,主要用于材料表面以下纳米级别的浅表层分析,能够检测元素周期表中所有元素及其同位素。检测限在ppm级别(特殊情况可至ppb)。可以提...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS) 型号:TOF-SIMS 5 iontof ,PHI NanoTOFII 测试项目: 质谱、面扫、深度剖析。 sims的数据的纵坐标是计数,是强度,不同离子的产额不同,产额高的谱峰强,并不代表含量高,简单说就是强度和含量没有什么直接关系; 样品要求: ...
仪器名称: 二次离子飞行时间质谱测试(TOF-SIMS) 型号: 检测项目: (1)深度分辨率:几个纳米;(2)空间分辨率:<一个微米;(3)质量分辨率:m/m5000(4)检测灵敏度:ppmppb;(5)绝缘层厚度为几个微米的样品质谱分析 设备性能: 应用范围: (1)样品组分和杂质元素纵向分布的深度剖析;(2)样品组分和杂质元素面分布的...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS) 满意度:98% 仪器型号: TOF.SIMS5-100,捷克-泰思肯-TESCAN GAIA3,IONTOF TOF-SIMS5,郑州云智企事业部专用,英国Kore SurfaceSeer-Ⅰ,德国-IONTOF-TOF.SIM等 预约次数: 687次 服务周期: 平均8.7个工作日 项目介绍 ...
仪器简介:该系统在SEM-FIB系统的基础上配备了拉曼(Raman)、飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)、能谱仪(EDS)、背散射电子衍射仪(EBSD)、阴极荧光(CL)、扫描透射探测器(STEM)以及多种加工、分析型附件,能够更加全面地对样品进行多角度原位分析。 主要应用:可用于金属、无机非金属、陶瓷、高分子、生物、碳材料、锂电...
预约1000次 平均0.00天完成 100.00%对实验结果满意 关注 实验室: 内部认证实验室-北京 参考价格: 面议 品牌: 美国Waters 型号: SynaptG2-SiMS 立即预约 设备详情 客户评价 (0) 开放和收费情况 硬件组成:四级杆、飞行时间质谱、离子淌度质谱 离子源:ESCI复合离子源,同时具有ESI和APCI模式 ...
预约详情 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS) 设备型号 TOF-SIMS 5 iontof,PHI NanoTOFII 样品准备须知!!! 粉末样品50mg即可(TOF-SIMS 5 iontof型号的设备不测粉末样品),块状样品长宽1.1cm以内,厚度5mm以内,不能太大,小一些没有问题。 粉末样品一定要干燥脱水真空包装邮寄,粉末样品一般不做深度剖析,只...