PACS Nos.: 81.10Jt, 81.40.Ef, 88.40.jj. Le recuit par lampe a decharge (FLA) de films de silicium amorphe (a-Si) peut causer une cristallisation spontanee (explosive) (EC) ou une cristallisation laterale induite, soutenue par le rejet de chaleur latente. Nous developpons un ...
zMiP7qvMWIl/r/jtzHioH1dRKgbod+LZsrDJ8mBaqsZaDmNJMhss9g76XvfMyLra 9DI9/iFuBpGzeqBv0hwOGQspLRrEoyTeR6n1ABEBAAG0H0NvbmxleSBPd2VucyA8 Y2NvM0BhbmRyb2lkLmNvbT6JATgEEwECACIFAlHRvc8CGwMGCwkIBwMCBhUIAgkK CwQWAgMBAh4BAheAAAoJEGe35EhpKzgsP6AIAJKJmNtn4l7hkYHKHFSo3egb6RjQ zEIP3MFTcu8HFX1...