Test point指的是在电路或芯片设计中特别添加的电路元件或逻辑,以便在测试时可以轻松地检测电路的正确性。Test point的添加有助于提高测试覆盖率和测试效率,从而减少测试成本,加快产品上市时间。 使用test point的目的 使用test point的目的有: 1、减少确定性pattern的数量。在某些情况下,测试覆盖率也可能会提高,但通...
3. Test Point Insertion介绍 插入的test point分为control point和observe point两类,而其中的control point又可以分为OR control point和AND control point。 Control Point 先来看一下插入OR control point整个过程中电路的变化情况。 在做完ATPG的report中看到测试覆盖率不满足要求,报告中一个例化名为U1024的四输...
网络测试点插入;并利用测试点插入 网络释义
使用test point的目的有: 1、减少确定性pattern的数量。在某些情况下,测试覆盖率也可能会提高,但通常提高幅度很小; 2、提高random pattern resistant faults的测试覆盖率。插入测试点是为了提高随机性pattern控制给定故障点、观察给定故障点或两者兼有的概率; 3、提高ATPG期间undetected故障的覆盖率。 Test Point Insert...
Test Point Insertion***介绍 插入的test point分为control point 和observe point两类,而其中的control point又可以分为OR control point和AND control point。 Control Point 先来看一下插入OR control point整个过程中电路的变化情况。 在做完ATPG的report中看到测试覆盖率不满足要求,报告中一个例化名为U1024的四...
通过设置test_point_en信号至1，将A0值通过与门传递至D端的F0001，再将Scan_en信号置0，暂存A0值。最后，通过Scan_en信号置1，值通过扫描链传播，实现对A0的观测。插入测试点可能带来的负面影响包括增加设计空间成本和可能影响性能，因额外电路或信号线路的引入可能增加芯片尺寸，提高复杂度及引入噪声或...
Test Point Insertion Using Functional Flip-Flops to Drive Control Points Joon-Sung Yang1, Benoit Nadeau-Dostie2, and Nur A. Touba1 Computer Engineering Research Center Dept. of Electrical and Computer Engineering University of Texas, Austin, TX 78712 {jsyang,touba}@ece.utexas.edu Abstract This...
Lee, "Test- Point Insertion: Scan Paths Through Functional Logic," IEEE Trans- actions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, vol. 17, no. 9, pp. 838-851, September 1998.C.-C. Lin, M.M. Sadowska, K.-T. Cheng, and M.T.-C. Lee, “Test-Point Insertion: ...
Test point insertion method 专利名称：Test point insertion method 发明人：Yoko Hirano 申请号：US11226466 申请日：20050915 公开号：US20060080576A1 公开日：20060413 专利内容由知识产权出版社提供 专利附图：摘要：A method for inserting a test point to enable fault detection comprises the steps of: (a)...
This paper presents a novel test point insertion method for pseudorandom built-in self-test (BIST) to reduce the area overhead. The proposed method replaces dedicated flip-flops for driving control points by existing functional flip-flops. For each control point, candidate functional flip-flops ...