扫描透射电子显微镜(STEM)从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探...
HRTEM(高分辨透射电子显微镜)与TEM(透射电子显微镜)的核心区别在于分辨能力和应用场景的精细化程度。HRTEM通过更高的分辨率(可达
透射电镜在材料有关的几乎所有领域中都有应用，其中最为常见的有三种透射电镜：普通透射电子显微镜（TEM）、高分辨率透射电子显微镜（HRTEM）和扫描透射电子显微镜（STEM）。TEM：可用来观察材料的微观形貌和结构，比如纳米催化材料的轮廓外形(包含尺寸)。HRTEM：高分辨率的TEM，可用来观察晶面间距，晶格间距以及原子排布等。
HRTEM:从字面意义上很好理解,高分辨电子显微镜,顾名思义就是比普通电镜的分辨率更高一些。确实,普通的TEM只能用来看看外观,很难看到内部结构,如:晶面间距、原子排布等信息。近年来HRTEM发展迅猛,分别率已经达到原子级别(几埃,甚至零点几埃)。理论上能够看清一个一个的原子。所以HRTEM用来观测晶体内部结构、原子排布以及...
2.高分辨TEM(HRTEM)图像 HRTEM为相位衬度像,它是参与成像的所有衍射光束和透射光束由于相位差所产生的干涉图像,用于观察晶体内部结构、原子排布和许多精细结构(比如位错、孪晶等)能够得到晶格条纹像,结构像和单个原子像这样分辨率较高的图像信息。 高质量HRTEM像的拍摄,需要较高要求的待测样品: ...
TEM:利用透射电子束穿过样品,通过电磁透镜系统放大电子束形成的图像,成像模式包括明场成像、暗场成像和衍射成像等。 HRTEM:成像原理与TEM类似,但采用更高级的成像技术,如相衬成像和球差校正等,以实现更高的分辨率。 操作要求与样品制备 TEM:操作相对简单,对样品的要求不如HRTEM严格,可以在较低的加速电压下工作。 HRTEM...
🔬TEM和HRTEM测试服务详解🔬 🔬 探索微观世界的奥秘,TEM和HRTEM测试是你的不二之选!以下是我们的服务细节: 1️⃣ 测试样品要求: 每个样品提供至少15至20张TEM图片,包含低倍、高倍和高分辨数据(1μm、500nm至最小5nm)。 选区电子衍射和EDS点扫覆盖两个不同区域,EDS线扫和面扫mapping提供一个区域,揭示...
上期内容介绍了 TEM、HRTEM、STEM 三者的基本特性以及三者的殊与同。内容发出之后,有些朋友表示 TEM、STEM 其实可以集合于同一台仪器,只是模式不同而已。确实如此,很多透射电镜可以兼具 TEM 和 STEM 两种模式。在此谢谢各位的补充。 本期精彩: 本期将结合具体实例,分析如何综合利用三种透射电镜,实现对材料结构的深入...
对晶体结构及暴露晶面的分析可分为通过HRTEM(比例尺≤5nm)进行晶格间距的分析和通过SAED对晶体结构和晶相的判断,具体步骤如下: 1、对HRTEM分析 1.标卡的标定 打开Digital Mcrograph(D.M.) File - open - 选择文件- 打开(dm3格式、JPEG、TIFF也可,D.M.可直接识别文件中的标尺、放大倍数、仪器型号等故有些...
高分辨TEM(HRTEM)图像 高分辨TEM(HRTEM)图像 HRTEM可以获得晶格条纹像(反映晶面间距信息);结构像及单个原子像(反映晶体结构中原子或原子团配置情况)等分辨率更高的图像信息。但是要求样品厚度小于1纳米。 ▽HRTEM光路示意图 ▽硅纳米线的HRTEM图像