通过X射线能谱仪（EDS）测量电子与试样相互作用所产生的特征X射线的波长（频率）与强度，从而可对微小区域所含元素进行定性或定量分析。应 用 举 例 可使用TEM进行形貌/尺寸、膜层、EDS元素分析（定性、定量、线分布、面分布）等，目前被广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等各类领域。1、微观形貌 通过TEM对粉...
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TEM Imaging&Analysis简称TIA,是FEI的一款透射电镜图像和能谱图处理分析软件,也是和Gatan Digital Micrograph类似的一款软件。 TIA能谱EDS点测定性分析 自动识别能峰(Peak ID) Peak ID 注意事项 如果谱简单(只有很少的峰,且峰与峰之间没有叠加),自动识别就能很好的识别各峰 谱越复杂越容易出现错误识别现象。比如,峰...
透射电子显微镜（TEM）是一种具有高分辨率和高放大倍数的电子显微镜，可以观察到材料在原子尺度的微观结构。在钠电池正极材料检测中，TEM被广泛应用于观察正极材料的形貌、颗粒大小、晶体结构以及包覆层的厚度和分布情况。通过TEM图像，研究人员可以直观地了解正极材料的微观结构特征，从而评估其性能。能量色散X射线谱仪（E...
EDS(能量色散X射线光谱仪)和TEM(透射电子显微镜)是两种截然不同的分析技术,但它们可以一起使用来提供材料的更完整信息。 TEM使用一束高能电子穿透样品来产生图像。这些电子与样品中的原子相互作用,从而产生可用于形成图像的信息。TEM可以提供样品的结构和形态信息,分辨率可达原子级。 EDS则通过检测样品中原子发出的X射线...
TEM-EDS检测主要应用于材料科学和纳米科学领域。在材料科学领域,TEM-EDS检测可以用于研究材料的微观结构和元素组成,例如金属材料、陶瓷材料、聚合物材料等。在纳米科学领域,TEM-EDS检测可以用于研究纳米材料的结构和元素组成,例如纳米颗粒、纳米...
利用聚焦离子束FIB,对材料样品做截面打薄制样,以获得平整且通透的截面,同时配合透射电子显微镜(TEM)完成对样品内部结构微观特征的观察和分析。通过对截面的形貌观察,可以看到晶界的分布、晶界的界限、循环后的颗粒的裂纹、缺陷以及晶格条纹和晶面分析,从而进一步研究裂纹、晶界、晶面组成对电性能的影响。此外,利用元素分布...
EDS与TEM的基本概念 EDS(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy)和TEM(Transmission Electron Microscope)是两种常用于材料科学中的分析技术。EDS是一种用来检测样品中元素组成的成分分析技术,它通过分析样品在被电子束照射时产生的特征X射线来确定样品的元素组成。而TEM则是一种高分辨率的显微镜技术,它使...
05 结果展示(TEM-EDS能谱测试案例) 1. TEM形貌图 2. TEM-EDS能谱点扫 3. TEM-EDS能谱线扫 4. 衍射图 5. TEM-EDS能谱面扫(Mapping) 06 常见问题及回答 1. 问:能现场测试吗?寄样的话,我不在旁边怎么才能拍到我要的图片?答:现场测试:可以现场安排的样品及要求不同,具体可咨询当地的对接人员; 寄样...
做EDS成份分析的人都知道在SEM/EDS系统中,轻元素的X光吸收效应非常显著,所以定量成份分析时,必须使用ZAF法(Z指原子序数/atomic number;A指吸收/absorption;F指荧光性/fluorescence)修正,也就是说在SEM/EDS中,吸收效应非常显著。相对于SEM使用块材当样品,TEM使用薄片(thin foil)型试片,因此很多人认为在TEM/EDS分析...