带电子能量损失谱的透射电子显微镜
入射电子束照射试样表面发生弹性散射,一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值,由此获得能量损失谱(EELS),利用EELS可以对薄试样微区元素组成、化学键及电子结构等进行分析。 EELS原理图 1 背景知识 在光学显微镜下无法看清小于0.2微米的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超细结构。要想看清这些结构,就必须选择...
6. 电子能量损失谱(EELS):通过测量电子穿过样品时的能量损失,提供材料的化学成分、价态和电子结构信息。 样品制备技术 TEM样品制备是实现有效分析的关键步骤,要求样品必须足够薄以便电子束能够穿透。常用的样品制备方法包括: 机械研磨:将块状样品研磨至适当厚度,再通过离子减薄技术进一步减薄至电子束可穿透的厚度。 聚焦...
因为存在大量的电子壳层和原子,所以当你查阅一些关于X射线的参考书时会发现,临界电离能的列表很长。这种列表方法在电子能量随时谱(EELS)研究中也是极其重要的,因为Ec值正好对应于某一临界损失能,在能量损失谱中以峰的形式出现(通常称为边)。 电离截面: 在电压低的SEM中需要考虑到的另一个参数就是过压U,它是电子...
EELS和HREELS是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用,而且最好是场发射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到0.1eV-1eV,主要用于得到元素的含量,尤其是轻元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而HREELS是一种高真空的单独设备,可以研究气体分子在固体表面的吸附和解离状态。 17.研究表面活性剂形成的囊...
tem，通常情况下，两种。EELS和EDX（EDAX）。sem，通常情况下，一种。DEX。EELS，有助于分析轻元素，Z...
7. 配套设备:TEM通常配备有能谱仪(EDS)、电子能量损失谱仪(EELS)等附件,用于对样品进行元素分析和化学状态分析。 总结:TEM是一种强大的显微分析工具,能够在纳米尺度上提供关于样品的结构、成分和性质的信息。 本文仅代表作者观点,不代表百度立场。未经许可,不得转载。
EELS 和 HREELS 是不同的系统。前者一般配合高分辨透射电镜使用,而且最好是场发 射枪和能量过滤器。一般分辨率能达到 0.1eV-1eV,主要用于得到元素的含量,尤其是轻 元素的含量。而且能够轻易得到相应样品区域的厚度。而 HREELS 是一种高真空的单独设 备,可以研究气体分子在固体表面的吸附和解离状态。 3 / 18 ...
在超高压电镜上附加充气样品室,使人们可以观察活细胞内的超微结构动态变化。 二、 TEM测试主要测什么? 中科百测检测TEM可检测的项目有: 可测试TEM、磁性TEM+HRTEM、SAED、EDS点扫/微区、EELS点或线或面扫、磁性STEM mapping、3D-TEM、STEM(HAADF)