什么是明场像、暗场像? ●明场像:用物镜光阑选择透射束成像时,获得的电子显微像称为明场像(BF:bright field image) ●暗场像:通过移动物镜光阑选择一个衍射束成像称为暗场像(DF:dark field image) 透射电子显微像观察中用物镜光阑确定成像的电子束 (备注:物镜光阑位于物镜后焦平面上,可以遮挡散射电子而提高试样像...
●明场像:用物镜光阑选择透射束成像时,获得的电子显微像称为明场像(BF:bright field image) ●暗场像:通过移动物镜光阑选择一个衍射束成像称为暗场像(DF:dark field image) ●中心暗场像:如果保持物镜光阑孔位于光轴上,用偏转线圈将选定的衍射束偏转到荧光屏中心,令其通过物镜光阑形成的像是中心暗场像(CDF:centre...
1. 明场成像（Bright Field Imaging）：这是TEM中最普遍的成像方式，通过透射电子形成图像，适用于观察样品的整体形貌和晶体缺陷。2. 暗场成像（Dark Field Imaging）：通过选择特定散射角度的电子进行成像，以突出样品中的特定结构。3. 高分辨透射电子显微镜（HRTEM）：通过直接成像电子波的干涉图样，实现对晶体结构的...
STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像，像的强度正比于原子序数Z的平方，Z越大像越亮。测试过程中利用HAADF探头采集样品信息，可以收集得到样品的原子和成分信息。STEM模式也可以进行汇聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED)、BF-STEM(Bright field image)、ADF-STEM(Annular dark field image)等成像拍摄。
TEM明暗场衬度图像 明场成像（Bright field image）：此技术允许透射光束通过物镜光阑，阻挡衍射光束以形成图像。明场成像主要收集透射电子信号，试样厚度越小，电子穿透范围越广，成像越明亮；反之，试样越厚，电子穿透困难，成像越暗。这种因试样厚度不均导致的明暗差异被称为“质厚衬度”。暗场成像（Dark field image...
明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。 暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 ▽明暗场光路示意图 ▽硅内部位错明暗场...
明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。 暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 ▽明暗场光路示意图 ▽硅内部位错明暗场图 来源:《Characterization Techniques of Nanomateria...
明场成像（Bright field image）：在透射电子显微镜中，通过调整物镜背焦面，使得透射束能够穿过物镜光阑，同时阻挡衍射束，从而获得明暗分明的图像衬度。暗场成像（Dark field image）：与明场成像相反，暗场成像时入射束的方向会斜向一个特定的角度2θ，使得衍射束能够穿过物镜光阑，而透射束则被阻挡，以此形成独特的...
明场成像(Bright field image):在物镜的背焦面上,让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到图像衬度的方法。 暗场成像(Dark field image):将入射束方向倾斜2θ角度,使衍射束通过物镜光阑而把透射束挡掉得到图像衬度的方法。 ▽ 明暗场光路示意图 ▽ 硅内部位错明暗场图 ...
STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像,像的强度正比于原子序数Z的平方,Z越大像越亮。测试过程中利用HAADF探头采集样品信息,可以收集得到样品的原子和成分信息。STEM模式也可以进行汇聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED)、BF-STEM(Bright field image)、ADF-STEM(Annular dark field image)等成像拍摄。