200 kV透射电镜 Spectra 200 TEM 用于30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率 下载数据表 200 kV冷冻透射电镜 Glacios 冷冻 TEM 可变的加速电压 80-200 kV ...
使用电压:200KV/300KV 样品类型:粉体、液体可测试,薄膜或块状样品需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)。 样品厚度:不超过100nm,如果颗粒稍大,可做FIB减薄或其他方法至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小)。 制样载网:普通碳膜适用于低倍材料或生物样品;超薄适用于量子点、小颗粒等尺寸较小材料;微栅适用于5...
赛默飞200 kV透射电镜Spectra 200 TEM 用于30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率 适用于所有材料科学应用的高通量 TEM 和 STEM 显微镜。 为了让科学家加深对复杂样品的理解并开发创新材料,他们必须能够获得...
由于采用改进硬件和尽量减少环境影响的新外壳,Glacios 2 Cryo-TEM 现在的信息极限为 2.1 Å。同样,冰层生长导致的传输损失在24小时内已经降至 2%,帮助您以更少的工作量采集更高分辨率的图像。当 Glacios 2 Cryo-TEM 配置 Thermo Scientific Selectris X 成像过滤器时,速度和分辨率可以进一步提高。 通过自动化提高...
减少对样品的干扰，从而获得更清晰的图像。不过，这种选择的前提是使用高分辨率电子显微镜，即加速电压在200kV以上的设备。如果使用的是100kV的电子显微镜，那么选择微栅膜可能就没有那么必要了在选择碳支持膜时，需要根据样品的特性、所需分辨率以及使用的电子显微镜的性能来综合考虑，以确保获得最佳的观测效果。
对100~200kV透射电镜来说，需要50~100nm厚的试样作为高分辨率透射电镜，试样厚度需要15nm左右（越薄越好）。现将透射电子显微学最常用的几种制样方法介绍如下：1.粉末法 该方法也称为悬浮液法，适于制备其粉末能为电子穿透的试样，例如碳黑和粘土矿物。若粉末样品在半固结的情况下，可用玛瑙研钵轻轻捣匀，再按照...
图5 200KV下各电子枪对比 Tips: 加速电压的选择 一般情况下尽量选择高的加速电压,图像会更清楚。 然而,高电压也会引起额外现象,最明显的就是电子束损失,所以对较轻的和对电子束敏感的材料,例如一些陶瓷材料和聚合物,低电压可能会更好。 大多数金属材料的损伤阈值小于400kV,这也是现有常规TEM的最高可用电压。
可以通过将物镜电流调整到特定电压(如 80kV、100kV 或 200kV)的已知设置来设置优中心高度,然后升高或降低Z高度,直到图像对焦。摇摆器"wobbler"按钮可用作聚焦辅助工具,将振动的分割图像合并为一个静态图像。 图26 正确的优中心位置示意图 以下正确和不正确的试样位置示意图。请注...
STEM 分辨率:60 pm (136 pm @ 30 kV) 未: 能量扩散:0.4 eV 信息限制:110 pm STEM分辨率:164 pm 源 X-CFEG:能量分辨率为<0.4 eV的超高亮度冷场发射枪 灵活的高压范围:30 – 200 kV 分析和检测器 Super-X/Dual-X EDS 选件、集成软件和 Gatan Ultrafast EELS/DualEELS 选件共同提供高达 1000 sp/s 的...
TEM（普通透射电子显微镜）的在水凝胶材料的常见表征应用 由于电子束穿透样品的能力低，因此要求所观察的样品非常薄，对于透射电镜常用75～200kV 加速电压来说，样品厚度控制在100～200nm。要得到更多显微结构信息的高分辨率照片，一般需要场发射 TEM。1、 TEM 表征凝胶网络结构 利用TEM进行表征可为评判水凝胶材料微观...