·对于常规的FEG工作,肖特基枪更好,更稳定可高,更易操作。 图5 200KV下各电子枪对比 Tips: 加速电压的选择 一般情况下尽量选择高的加速电压,图像会更清楚。 然而,高电压也会引起额外现象,最明显的就是电子束损失,所以对较轻的和对电子束敏感的材料,例如一些陶瓷材料和聚合物,低电压可能会更好。 大多数金属材...
首次下单建议先联系指南针工作人员,沟通拍摄要求后再下单;若样品需要特殊条件保存,请下单前联系指南针工作人员确认。 1. 使用电压200KV/300KV; 2. 粉体、液体、可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等); 3. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可做FIB减薄或其他方法...
200 kV冷冻透射电镜 Glacios 冷冻 TEM的主要特点 高分辨率 TEM Glacios 2 冷冻透射电镜提供近原子分辨率。以经改进的硬件和具有可将对环境影响降到的全新机身,现在 Glacios 2 冷冻透射电镜的信息限制为 2.1 Å。同样,已将24小时内因冰生长而导致的透射损耗减少到 2%,让您在收集高分辨率图像时事半功倍。如果 Glac...
3.2 中等电压模式(100-200 kV) 中等电压模式是最常用且广泛适用的模式之一。在这个电压范围内,分辨率和穿透能力都可以达到较好的平衡。大多数样品都可以在这个电压范围内进行观察和分析。 3.3 高电压模式(>200 kV) 高电压模式适用于一些较厚或较密集的样品。由于较高的加速电压,电子束具有更高的穿透能力,可以穿过...
多功能电子显微镜JEM-2100PLus采用多级聚光镜设计，在任何束斑尺寸下均可提供高亮度电子束，包含聚光镜光缆、衬度光缆、选区衍射光缆，大大提高了分析和衍射成像能力。图：多功能电子显微镜JEM-2100PLus 采用六硼化镧灯丝为发射源，加速电压可在80至200kV间高效，放大倍数最高可达2nm，大大提升了测试样品的种类，同时...
这种设计具有高度控制的总池厚度(<70nm)，保留了TEM的原子分辨率成像和分析能力，而基板上方和下方存在的液体使DGLC具有足够的耐用性，能够在约2.8×106e•s-1•nm-2的电子通量下连续成像10分钟以上，即在200 kV下实现原子分辨率成像。该设计通过在光束下定向烧蚀MoS2层，还可以直接混合单独的液体样品。图1. ...
可以通过将物镜电流调整到特定电压(如 80kV、100kV 或 200kV)的已知设置来设置优中心高度,然后升高或降低Z高度,直到图像对焦。摇摆器'wobbler'"按钮可用作聚焦辅助工具,将振动的分割图像合并为一个静态图像。 图19 正确的优中心位置示意图 以下正确和不正确的试样位置示意图。请注意,试样位置不同,图像的焦点也不...
200 kV冷冻透射电镜 Glacios 冷冻 TEM 可变的加速电压 80-200 kV 用于冷冻样品操作的行业领先的自动加载器 占地面积小 增强易用性: 下载数据表 半导体计量透射电镜 Metrios AX TEM 支持质量、一致性、计量以及减少 OPEX 的自动化选项 充分利用机器学习实现出色的自动功能和特征识别 ...
赛默飞200 kV透射电镜Spectra 200 TEM 用于30-200 kV 加速电压的高分辨率和对比度成像 宽间隙极片设计为 5.4 mm 的对称 S-TWIN/X-TWIN 物镜 60 kV-200 kV 范围的亚埃 STEM 成像分辨率 适用于所有材料科学应用的高通量 TEM 和 STEM 显微镜。 为了让科学家加深对复杂样品的理解并开发创新材料,他们必须能够获得...
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