利用聚焦离子束FIB,对材料样品做截面打薄制样,以获得平整且通透的截面,同时配合透射电子显微镜(TEM)完成对样品内部结构微观特征的观察和分析。通过对截面的形貌观察,可以看到晶界的分布、晶界的界限、循环后的颗粒的裂纹、缺陷以及晶格条纹和晶面分析,从而进一步研究裂纹、晶界、晶面组成对电性能的影响。此外,利用元素分布...
1.设备型号 透射电镜测试 |周工:18811843699TF20 场发射透射电镜,配备能谱仪 ,透射电镜测试 |周工:18811843699 2.原理 透射电子显微镜(Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速…