在已经加工的截面的基础上,进行TEM样品制备,原位提取出透射样品切片。样品制备完成后,进行TEM/EDX分析。图3为图2 b) 中两个异常位置(裂纹和白色particles)的TEM明场像;由高倍图像可知,该裂纹终止于poly与下方氧化层的界面处(图3 b红色箭头处)。仅从高倍TEM明场像无法判断异常点的成分,要想进一步分析异常点的失...
微束分析层状材料截面三种类型TEM STEM图像应用实例、主要应用、标尺单位校准像素尺寸校准.pdf,GB/T —XXXX A A 附录 A (资料性附录) 三种类型的 TEM/STEM 图像应用实例 A.1 通则 为了方便使用者正确理解本文件所述的处理过程,给出了以下示例。 A.2 类型 1 图像的处理示
当前,透射电子显微镜(transmission electron microscope,简称TEM)已成为研究材料微观结构的重要仪器,在利用TEM获取微结构图像时,图像衬度低是较常出现的一个问题.目前鲜有文献针对这一问题开展全面性和系统性的讨论.本文对增加图像衬度的多种理论途径进行了实验验证,并讨论了不同典型低衬度样品的衬度改善方法,使TEM用户...