Surface Analysis with STM and AFM. Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis. Von S. N. Magonov und M.-H. Whangbo. VCH, Weinheim, 1996. 316 S., geb., 198,- DM. ISBN 3-527-29313-2.]]>No abstract is available for this article.Kaupp, Gerd...
Nach bisheriger Auffassung soll die Passivierungsschicht frei sein von ortsfesten Ladungen und auch von mobilen Ladungen, die im elektrischen Feld des in Sperrrichtung gepolten Halbleiterübergangs driften und so die Ursache für Sperrinstabilitäten bilden können. ...
(A) Time dependence of the signal intensity for the 4-nitrFoibgeunreze5.nPertohtieocltiuosneodf SaEsRaSR-baamseadnimrempuonrtoearssmayo.l(eAcu) Tleim. Readmepaenndpeenacke aotf t1h3e3s6igcnmal−i1ntceonrsrietyspfoorntdheing to NfoOr c2l4Nas-rynOimti2ytrsm)oy.bme(eBtnmr)ziecAe...