创新的CFE枪技术为最终的FE-SEM提供了光束亮度和稳定性,提供了高分辨率的成像和高质量的元素分析。物镜设计也有EELS和衍射的能力。 SU9000是HITACHI的新的高级SEM。它具有电子光学特性,样品被放置在物镜杆件的上下部分之间的间隙内。这种所谓的真正的透镜内概念--与HITACHI的下一代冷场发射技术相结合--保证了z高的...
SU9000II除了可以安装传统扫描电镜的附件外,还可以做电子衍射和EELS等透射电镜的扩展功能。 SU9000II的EELS可以对不同能量范围的电子进行过滤,从而得到不同能量损失的图像。相比于EDS,EELS对轻元素的检测更加灵敏,能量分辨率也更高,同时可以获取化学键态、电子结构、价态等信息,扩大了扫描电镜的分析能力。 SU9000II E...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...
电子能量损失谱(EELS)作为一种元素分析方法已经在透射电镜中被广泛使用。但是,传统的透射电镜由于电压过高,对于某些材料(如纳米材料、弱相位)进行EELS分析时会产生较大的损伤,或者无法显示足够的衬度,这类材料往往需要低电压(<30kV)的EELS分析。日立的SU9000既有扫描电镜的功能,同时又带有EELS和电子衍射等透射电镜的分...