透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-...
原子力显微镜AFM、扫描隧道显微镜STM、扫描透射电子显微镜STEM这五类显微镜可以分为两组，SEM、TEM和STEM为...
透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,*地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
扫描隧道显微镜（STM）STM是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。一根携带小小的电荷的探针慢慢地通过材料，一股电流从探针流出，通过整个材料，到底层表面。当探针通过单个的原子，通过流过探针的电流量波动，得到图片。
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征,大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统...
STM，即扫描隧道显微镜，使用隧道电流成像，主要用于纳米尺度的表面形貌分析，其功能与SEM和TEM都有所不同。SEM和TEM的主要区别在于工作原理和成像方式。SEM通过电子束扫描样品表面来获得图像，而TEM则利用高能量电子穿透样品内部结构，从而观察到样品内部的细节。STEM作为SEM的一个功能模块，可以实现类似于TEM...
HRTEM和STM有本质区别的STM是表面局域电子态，和内部结构并无大关系TEM是晶格整体对电子的衍射，实际样品...
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。 PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地...