9.透射电子显微技术TEM10.扫描电子显微技术SEM 11.原子力显微镜AFM12.扫描隧道显微镜STM 13.原子吸收光谱...
TEM工作图 TEM成像过程 STEM分析图 EELS原理图 透射电镜的优点是: (1)高分辨率(高的有效放大倍数); (2)通过衍射获得结构信息; (3)可分析样品的元素组成。 原子力显微镜(AFM) AFM通过检测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。 将一对微弱力极端敏感的微悬臂...
扫描电子显微镜（SEM）扫描电镜成像是利用细聚焦高能电子束在样件表面激发各种物理信号，如二次电子、背散射电子等，通过相应的检测器来检测这些信号，信号的强度与样品表面形貌有一定的对应关系。用背反射信号进行形貌分析时，其分辨率远比二次电子低。可根据背散射电子像的亮暗程度，判别出相应区域的原子序数的相对大小...
一分钟看懂四大显微设备场发射扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、扫描隧道显微镜(STM)基础知识 02:54 【科研技巧】文献还没看明白就要做文献汇报?汇报的时候长篇大论,导师头都要摇掉? 03:06 研究生必看!学会正确读文献是读研的必修技能!如何高效/正确的阅读文献?
SEM就是利用逐点成像，将试样表面的不同特性，按照先后顺序及比例变换成影像，例如二次电子像等。背散射电子像 扫描电镜的优点是：1）有较高的放大倍数；2）有很大的景深，视野大，成像富有立体感，3）试样制备简单。实例图片：射电子显微镜（TEM）TEM就是将聚焦电子束投影在很细的试样表面，通过试样透射电子束或者...
SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别主要是名称不同、工作原理不同、作用不同、 一、名称不同 1、SEM,英文全称:Scanningelectronmicroscope,中文称:扫描电子显微镜。 2、TEM,英文全称:TransmissionElectronMicroscope,中文称:透射电子显微镜。 3、XRD,英文全称:Diffractionofx-rays,中文称:X射线衍射。
SEM和TEM的主要区别在于工作原理和成像方式。SEM通过电子束扫描样品表面来获得图像，而TEM则利用高能量电子穿透样品内部结构，从而观察到样品内部的细节。STEM作为SEM的一个功能模块，可以实现类似于TEM的扫描透射成像，但其成像质量和分辨率通常不如专用的TEM。STM则与SEM和TEM的工作方式完全不同，它基于量子...
TEM成像过程 STEM成像不同于平行电子束的TEM，它是利用聚集的电子束在样品上扫描来完成的，与SEM不同之处在于探测器置于试样下方，探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。STEM分析图 入射电子束照射试样表面发生弹性散射，一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征...
STEM成像不同于平行电子束的TEM,它是利用聚集的电子束在样品上扫描来完成的,与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。 STEM分析图 入射电子束照射试样表面发生弹性散射,一部分电子所损失能量值是样品中某个元素的特征值,由此获得能...
SEM是采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序和比例转化为图像,如二次电子像。 背散射电子像等 扫描电镜的优点是: 1)有较高的放大倍数; 2)有很大的景深,视野大,成像富有立体感, 3)试样制备简单。 实例图片: 2、透射电子显微镜(TEM) TEM是聚焦电子束投射到非常薄的样品上,透过样品的透射电子束或衍...