Zachman等尝试将冷冻STEM与冷冻FIB结合起来,在FIB提取样品前使用X-Max 80对亚表层结构进行定位,根据元素分布引导FIB切取感兴趣区域。然后使用带有冷冻针尖的纳米操纵手OmniProbe 200提取样品,这种方法可大大地提高冷冻样品制取的成功率,拓展冷冻FIB的应用范围。之后进行冷冻STEM分析,可以获取固-液界面的结构、元素和化学键...