2）EELS（电子能量损失谱）：利用入射电子引起材料表面电子电离、价带电子激发、震荡等，发生非弹性散射，用损失的能量来获取表面原子的物理和化学信息的方法。通过电子能量损失谱(EELS)和X射线能谱仪(EDS)可以获得样品的化学信息，从而替换结构信息。STEM HAADF像、EDX与EELS像 3）HRTEM（高分辨像）：用来观测晶体内部...
EELS是通过测量透射电子束与样品相互作用产生的电子能量损失谱来获得STEM电位的方法。 三、Zata电位和STEM电位的应用领域 Zata电位和STEM电位在材料科学和纳米技术领域有广泛的应用。在材料科学领域,Zata电位可以用来研究颗粒的稳定性、表面活性剂的吸附与脱附等现象,对于了解材料的分散性和稳定性具有重要意义。在纳米技术...
同时,结合其他表征技术,如电子能量损失谱(EELS),可以进一步拓展其应用范围。 通过以上分析,可以看出HAADF-STEM作为一种先进的电子显微镜技术,在多个领域具有重要的应用价值和发展潜力。
HAADF-STEM是一种基于高角度环形暗场成像技术的扫描透射电子显微镜,具有原子级分辨率和元素敏感性,广泛应用于材料微观结构分析。其通过收集高角度散射电子形成图像,尤其适用于观测重元素分布及单原子催化剂表征。 1. 基本概念与工作原理 HAADF-STEM全称为高角环形暗场扫描透射电子显微镜(High-Angle ...