电镜测试中常用的元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM, 视频播放量 3910、弹幕量 1、点赞数 51、投硬币枚数 11、收藏人数 121、转发人数 11, 视频作者 电化学与电催化, 作者简介 王老师,中科院博士,华算科技全职电化学专家,本硕博15篇SCI,12年电化学科研经验!QQ群:83
主要原因是EDS很适合对重元素进行探测和定量分析。另外,从实验技术上讲,要想通过EELS得到准确的样品信息,样品必须足够薄,随后需要做大量的数据处理,对图谱数据的理解需要更多的物理知识,所以对个人实验技术和专业知识都有很高的要求。因此,在扫描透射电子显微镜中两种谱仪总是搭档出现。 图4 电子能量损失谱示意图 EELS...
主要原因是EDS很适合对重元素进行探测和定量分析。另外,从实验技术上讲,要想通过EELS得到准确的样品信息,样品必须足够薄,随后需要做大量的数据处理,对图谱数据的理解需要更多的物理知识,所以对个人实验技术和专业知识都有很高的要求。因此,在扫描...
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除了高图像分辨率外,还可以表征结晶相、结晶取向(使用电子衍射实验)、生成元素图(通过使用 EDS or EELS) 并获取突出元素对比度的图像(Z 对比度或 HAADF-STEM 模式)。 这些都可以从精确定位的纳米级区域完成。 STEM 和 TEM 是出色的薄膜和 IC 样品失效分析工具。 理想用途 0.2 nm分辨率的计量 识别集成电路上的...
几种元素应该是存在的，比例不知道，拿谱图的话能得到个大概，精确的不能用eds的，定量误差很大 [ 发...
●与STEM其他技术完全兼容(HAADF, BF, diffraction, EELS (插入式探测器),EDS, Tomography (可伸缩探测器) ●与GatanDigital Micrograph软件兼容 应用领域: ●先进材料性质研究,如: 氮化物半导体(GaN,InGaN,AlGaN, …); III-V族半导体(GaP,InP,GaAs,…); ...
在 STEM 中,EDS 利用电子束辐照期间从样品发射的这些 X 射线来生成样品成分的光谱数据集和图谱,使其成为补充其高分辨率成像功能的强大分析工具。EDS 探测器包含一个 Si 传感器,可将入射的 X 射线转换为与其能量成比例的电压。基于 Si 的探测器可以识别元素周期表中 Li 以上的所有元素。每个能量通道中的计数或...
请问SEM,XRD,HRTEM,STEM,XPS,EDS的功能及区别
测试内容1 EDS Mapping 测试内容2 原子相+Mapping 测试内容3 原子相-EELS 测试内容4 HAADF 原子相 测试内容5 原子相-mapping-EELS 测试内容6 原子相+Mapping+线扫 测试内容7 空位缺陷 其他要求 请联系技术经理确认 服务范围 全国 总部 成都 科研团队 500人 人员学历 100%硕博 自营实验室 30+ ...