电镜测试中常用的元素分析方法:EDS、EELS、HAADF-STEM, 视频播放量 3808、弹幕量 1、点赞数 50、投硬币枚数 11、收藏人数 119、转发人数 10, 视频作者 电化学与电催化, 作者简介 王老师,中科院博士,华算科技全职电化学专家,本硕博15篇SCI,12年电化学科研经验!QQ群:83
扫描透射电子显微镜(STEM):STEM是一种利用聚焦电子束在样品上扫描,通过收集透射电子或散射电子来形成图像的技术。它能够实现高分辨率的形貌成像,特别是对于薄样品。 能量色散X射线光谱仪(EDS):EDS是一种分析技术,利用电子束激发样品中的原子,使其发射出特征X射线。通过检测这些X射线的能量和强度,可以确定样品中的元素...
在电子显微镜中,电子束照射在观察区域上,形成水滴形的相互作用区域,如图1 所示。从该区域中会逸出多种信号,如观察表面形貌的二次电子(SE)、区分成分衬度的背散射电子(BSE)和分析成分的X射线。电子显微镜会配置不同的探测器来接收这些信号进行成像。能谱仪(EDS, Energγ Dispersive Spectrometer)以X射线为信号源分析...
这项工作证明了ASS Li电池在充电过程中的界面层相变机理以及高界面阻抗的起因,展示了原位STEM模式下HAADF成像技术与EELS光谱分析结合的强大功能。 图7 阴极/固态电解质界面(a-c) HAADF-STEM图像;(d-f) STEM-EELS分析[7] 5.3 STEM-EDS解析元素组成 在样品上配备EDS探头收集检测样品与电子束相互作用激发的特征X射...
1 X 射线能谱X 射线能谱( Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)是微区成分分析最为常用的一种方法,其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时,会在内层电子处产生一个空缺,原子处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而释放出具有一定...
图3. 无机(CdS)/有机(PPY)异质结线扫描分析结果EDS 面扫描分析是电子束在样品表面扫描,试样表面的元素在屏幕上由亮度或彩色表现出来,常用来做定性分析。亮度越高,元素含量越高,结合形貌像常用于成分偏聚、 相分布的研究中。图 4 所示的是有机、 无机纳米线的面扫描结果,可以看出 C 和 Cd 元素的分布于纳米...
X 射线能谱( Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)是微区成分分析最为常用的一种方法,其物理基础是基于样品的特征 X 射线。当样品原子内层电子被入射电子激发或电离时,会在内层电子处产生一个空缺,原子处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而释放出具有一定能量的特征 X...
当需要将 EDS 分析与 STEM 扫描中的每个点组合时,具有速度增强功能的 Ceta 相机为需要更多像素的 4D STEM 应用提供了另一种选择。该解决方案提供更高分辨率的衍射图案(高达 512 x 512 像素分辨率),适用于应力测量等应用。 Spectra 300 (S)TEM灵活的能谱配置 ...
（1）对校正后的数据进行图像重构，得到高分辨率STEM图像。（2）根据需要，对重构后的图像进行滤波、增强等处理，提高图像可视性。5. 数据分析 （1）提取图像中的特征信息，如晶格结构、原子排列等。（2）结合其他分析手段，如能谱分析（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等，对样品进行综合分析。测试狗材料表征 ...
EDS点分析是将电子束固定于样品中某一点上，进行定性或者定量的分析。该方法准确性较高，用于显微结构的成分分析。图2展示了陶瓷样品的EDS点分析结果。EDS线扫描分析是电子束沿一条线对样品进行扫描，能得到元素含量变化的线分布曲线。结合样品形貌像对照分析，能直观获得元素在不同区域的分布情况。图3...