而后又在STEM模式下对晶界位错进行详细表征。 STEM模式与普通TEM模式不同,采用的是会聚电子束“逐点扫描”,这样的优势在于可以最大程度避免等倾等厚条纹(受样品厚度和自身弯曲影响),从而提高整个图片的衬度,也有利于位错形貌的拍摄。STEM模式可分为三种:BF、DF、HAADF(与收集角大小有关)。BF与DF的作用与TEM明暗...
3楼:Originally posted bydaiyu1987at 2017-04-02 19:43:32 很漂亮的结果，不知道粒子的单分散性咋样...
很漂亮的结果，不知道粒子的单分散性咋样 发自小木虫IOS客户端
而后又在STEM模式下对晶界位错进行详细表征。 STEM模式与普通TEM模式不同,采用的是会聚电子束“逐点扫描”,这样的优势在于可以最大程度避免等倾等厚条纹(受样品厚度和自身弯曲影响),从而提高整个图片的衬度,也有利于位错形貌的拍摄。STEM模式可分为三种:BF、DF、HAADF(与收集角大小有关)。BF与DF的作用与TEM明暗...