PIR、PTR、MPR、FTR、PRR这几个record是每次连续发送完一次touch down的数据,然后发送下一record记录的一次touch down数据,可以理解为:PIR(一次TD)->PTR/MPR/FTR(一次TD)->PRR(一次TD)-> PIR(一次TD)-> PTR/MPR/FTR(一次TD)->PRR(一次TD)这样循环。从《stdf-specification-V4.pdf》文档中我们也能看出stdf...
(FTR ) Data collected per program segment 10 Begin Program Section Record (BPS) 20 End Program Section Record (EPS) Generic Data 10 Generic Data Record (GDR) 30 Datalog Text Record (DTR) Reserved for use by Image software Reserved for use by IG900 software 0 1 2 5 10 15 20 50 180 ...
标准 的STDF用户来说 ,从FTR到DTR的过程并非 众所周知 ,这样 ,其依赖关系可能导致数据关 系 的失衡。另外 ,在每个周期的扫描失效数据中 , DTR记录将增加四个字节的标题 。虽然标题 占用 的字节 取决 于 失效 信 息数 据量 的大 小 ,但 这个 额 ...
[0008] 除了上述表1示例的mir之外,stdf文件中还包括mpr、ptr、ftr、mrr等等。正是因此,stdf文件几乎无所不包并且很可能随着晶圆测试作业导致文件大小过大,人工加载stdf文件至解析软件后即使能够以明文阅读其中信息,也很可能遇到反复多次才能加载成功而浪费时间,或者因为视觉疲劳导致查看数据时看错数据。 [0009] 因此,...
The Standard Test Data Format (STDF) Log is a standard file format for storing test station information, lot information, and semiconductor test result data. Note When you retest a DUT, the STDF file includes the PIR, PRR, PTR, and FTR records for every test run, including retests. The ...
SKIP_FTR 布尔字符串(True/False) True 是否默认跳过FTR数据 DISK 字符串 D 软件的缓存文件盘符,默认会在D盘生成1_STDF缓存文件夹路径 FILE_FILTER 字符串 .std;.stdf;*.std_temp 软件默认支持的STDF数据类型, 使用英文;分割 EN 布尔字符串(True/False) False 是否使用英文版本(App按钮均为机翻) App操作文档...
提示: 功能测试 FTR 没有测试值,在趋势图和直方图中用的是FTR的测试标识(Test Flag)进行绘图 STDF文件中所有的测项会显示在选择测项,可以多选。下方提供搜索框进行过滤。 测项的统计信息(Cpk、平均值、方差等)显示在统计信息中。 测试原始数据 选择测项后在STDF信息->数据详情查看。表格中每行代表一个DUT,每列...
FunctionalTestRecord(FTR)55 BeginProgramSectionRecord(BPS)60 EndProgramSectionRecord(EPS)61 GenericDataRecord(GDR)62 DatalogTextRecord(DTR)64 STDFFilenames STDFFileOrdering StoringRepairInformation UsingthePinMappingRecords DifferencesBetweenSTDFV3andV4 RecordTypes DataTypes FilenameCharacters RequiredRecords Chan...
Ftr:2000000602|1|1|0|247|0|0|1|0|0|0|0|0|0|||[]|oland_A0_tst_reg_rw_anno_posttdo_plist|64,1,1||JTAG_TST_REG_NOM:Functional[1]|||255|[] Functional Test Record: TEST_NUM|HEAD_NUM|SITE_NUM|TEST_FLG(fail, alarm, etc.)| OPT_FLAG|CYCL_CNT|REL_VADR|REPT_CNT|REPT_CNT|XF...
步骤S242:选取第一片晶圆的第二个芯片的所有测试数据汇总为PIR-PTR-MPR-FTR-PRR字段,插入到A 2 指针之后,插入完成后新建指针A3指向PRR最后一个字节,同时更新所述指针2的坐标信息; 步骤S243:依次类推,到第N个芯片的所有测试结果全部插入,新建A N+1 指针指向PRR最后一个字节,即所述第二级指针的坐标信息被更新...