SR332 Issue 4, March 2016 目录 • 1 引言 • 2 电子设备可靠性预计 • 3 器件稳态失效率预计 • 4 器件早期寿命因子预计 • 5 部件失效率预计 • 6 系统可靠性 • 7 失效率置信度上限 • 8 器件参数 • 9 失效率因子 II-VI Proprietary Page 2 1 引言 • 1.1 目的和范围 – 为...
它还常常被用于计算电子设备的MTBF值。 在2016年的3月,Telcordia SR-332已经更新到第4期了,相比于Issue 3,第4期主要有以下的变化: 1.The generic device failure rates in Section 8 have been revised based on new data for many components. For a few devices, the range of complexity covered by the ...
Reliability Prediction Procedure forElectronic EquipmentSpecial ReportSR-332Issue 4, March 2016Enterprise License RestrictionsThis document is available only via an Enterprise License (EL), and canonly be shared among the EL licensees of this document. Violators ofthe EL agreement may be subject to d...
MTBF Telcordia_SR-332 Issue 4 2016 下载积分: 2000 内容提示: Reliability Prediction Procedure forElectronic EquipmentSpecial ReportSR-332Issue 4, March 2016Enterprise License RestrictionsThis document is available only via an Enterprise License (EL), and canonly be shared among the EL licensees of ...
MTBF(Mean Time Between Failures):该指标是评估产品可靠性的重要参数。我们基于TelcordiaSR-332 issue4 的方法1,对产品的MTBF进行了全面测试和分析。 故障率分析:通过检测产品故障发生的频率和分布,我们能够对产品的故障模式进行深入分析,并推导出可靠性参数,为您提供合理的评估和改进建议。
电子设备可靠性预计(SR-332)电子设备可靠性预计 SR332Issue4,March2016 目录 •••••••••1引言2电子设备可靠性预计3器件稳态失效率预计4器件早期寿命因子预计5部件失效率预计6系统可靠性7失效率置信度上限8器件参数9失效率因子 II-VIProprietaryPage2 1引言 •1.1目的和范围 –为预计器件(...
电子设备可靠性预计(SR-332)电子设备可靠性预计 SR332Issue4,March2016 目录 •••••••••1引言2电子设备可靠性预计3器件稳态失效率预计4器件早期寿命因子预计5部件失效率预计6系统可靠性7失效率置信度上限8器件参数9失效率因子 II-VIProprietaryPage2 1引言 •1.1目的和范围 –为预计器件(...
本文以军用标准GJB/Z 299C-2006和商用标准Telcordia SR-332 Issue4 2016为代表进行分析。为了方便下文介绍,后文以基本可靠性模型为例。 元器件计数法和应力法的对比 GJB/Z 299C和SR-332预计标准均主要针对元器件应力法进行介绍。 元器件计数法一般用于产品研制阶段的早期,此时已进行了初步的设计,形成了产品的功能...
本文以军用标准GJB/Z 299C-2006和商用标准Telcordia SR-332 Issue4 2016为代表进行分析。为了方便下文介绍,后文以基本可靠性模型为例。 元器件计数法和应力法的对比 GJB/Z 299C和SR-332预计标准均主要针对元器件应力法进行介绍。 元器件计数法一般用于产品研制阶段的早期,此时已进行了初步的设计,形成了产品的功能...
本文以军用标准GJB/Z 299C-2006和商用标准Telcordia SR-332 Issue4 2016为代表进行分析。为了方便下文介绍,后文以基本可靠性模型为例。 元器件计数法和应力法的对比 GJB/Z 299C和SR-332预计标准均主要针对元器件应力法进行介绍。 元器件计数法一般用于产品研制阶段的早期,此时已进行了初步的设计,形成了产品的功能...