通信/电子--电子设计 文档标签: MTBF 系统标签: telcordiabellcorejanrestrictionstechnologiesprohibits 中国可靠性网http://.kekaoxingReliabilityPredictionProcedureforElectronicEquipmentTelcordiaTechnologiesSpecialReportSR-332Issue3,January2011TelcordiaTechnologies,Inc.—EnterpriseLicenseRestrictions.Thisdocumentisavailableonlyv...
1:可以通过查询SR332标准里的表得出;继续用上面提及的普通定值电容,我们再把之前的截图再放一次如下图,注意图中黄色框框部分,这里指代该普通定值电容温度应力匹配等级为“1”,通过查询SR332 ISSUE3 Table 9-1如下第二张图可见“1”列对应的不同温度等级下的πT值;例如40度等级时,该电容的πT=1;30度时该电容...
对第一个问题:通过查SR332_Issue3 标准可见,对于单个标准LED,其基础失效率为0.25,标准偏差为0.18. 332标准截图如下: 那么对于14个LED,如何得出其总体标准偏差值呢?通过查询SR332_Issue3标准,运用公式6-2,得出总体标准偏差为根号下(0.18^2*14)=0.673498. 对于第二个问题:90%置信度下的总体失效率分析,查询SR332...
Reliability prediction is an important element in the process of selecting equipment. These predictions provide necessary input to system-level reliability modes for predicting expected downtime per year and system availability. Issue 3 of SR-332 provides all the tools needed for predicting device and...
3.Clarification and guidance have been added based on items raised by the forum participants as well as frequently asked questions raised by users of the document. 工程师在运用此标准的时候,需要特别注意到这些变化。 我们实验室可以提供Telcordia SR-332 Issue 4标准的MTBF测试报告,也可以提供盖CNAS和CM...
SR332Issue4,March2016 目录 •1引言•2电子设备可靠性预计•3器件稳态失效率预计•4器件早期寿命因子预计•5部件失效率预计•6系统可靠性•7失效率置信度上限•8器件参数•9失效率因子 II-VIProprietary Page2 1引言 •1.1目的和范围 –为预计器件(device)，部件(unit)和串联系统硬件(serial...
SR332Issue4,March2016 目录 •••••••••1引言2电子设备可靠性预计3器件稳态失效率预计4器件早期寿命因子预计5部件失效率预计6系统可靠性7失效率置信度上限8器件参数9失效率因子 II-VIProprietaryPage2 1引言 •1.1目的和范围 –为预计器件(device)，部件(unit)和串联系统硬件(serialsystem...
ಘԦ㊫ර⍻䟿৲ᮠ Gi(issuel)m EaʌSi(ᓄ࣋ഐᆀ)ʌTi(ᓖഐᆀ)MOSFET ssi=¬Gi ʌ4i ʌSi ʌTi ʌ(i ID(Actual)T Vds (Actual)20˄Swith˅,40˄Linear˅ 0.0240.22EXP(0.024*((ID*ID/RDS(ON)*100/PD)-50))EXP((0.22/0.0000862)*(1/ (...
1 Introduction 1 简介 This section details the purpose and scope of the Reliability Prediction Procedure (RPP) and indicates changes from the previous issue (SR-332, Issue 2, September 2006). 本节详细的目的和范围的可靠性预计程序(RPP ),表明变化从先前的刊号 (sr-332,2 期,2006 年九月)。 1.1...
本文以军用标准GJB/Z 299C-2006和商用标准Telcordia SR-332 Issue4 2016为代表进行分析。为了方便下文介绍,后文以基本可靠性模型为例。 元器件计数法和应力法的对比 GJB/Z 299C和SR-332预计标准均主要针对元器件应力法进行介绍。 元器件计数法一般用于产品研制阶段的早期,此时已进行了初步的设计,形成了产品的功能...