SP-ICP-MS分析技术的核心是需要ICP-MS具有快速时间分辨能力。PerkinElmer NexION系列ICP-MS,最快瞬时采集速率达100 000点每秒,可直接表征小粒径、多成分或多形状的纳米材料,如10nm Au NPs数量和粒径测定、金纳米棒的长短分析[1]、Au-Ag核-壳型纳米颗粒在光照和外界环境中的转变表征[2]、无需消解直接快速测量上...
SP-ICP-MS还用于表征各种制程化学品。表2显示了酸性样品（例如70%硝酸和96%硫酸）中各种元素的SP-ICP-MS纳米颗粒浓度、碱性样品（例如25%四甲基氢氧化铵，TMAH）、氧化剂（例如30%过氧化氢，H2O2）和有机溶剂（例如异丙醇，IPA和丙二醇甲醚醋酸酯，PGMEA）。这些都是半导体制造工艺中常用化学品，如清洗、显影、蚀...
通过单颗粒 ICP-MS(spICP-MS)法定量分析室内灰尘中含有 Al、Mg、Si、Ti、Cr、Fe、Cu、Zn、Ba、Pb 等元素的纳米级颗粒物的质量浓度和粒径分布(以对应的氧化物计)。结果表明,室内灰尘中存在含有上述元素的纳米级颗粒物,并且在公共空间和个人空间中的含量有一定的差异,其中含 Mg、Al、Si、Fe 的颗粒物粒径在 ...
单细胞-电感耦合等离子体-飞行时间质谱法（sc-ICP-TOF-MS）是一种能自动且直接检测单个人体细胞中蛋白质相对浓度的分析方法。也可以进一步采用金属纳米簇（Metal Nanocluster， MNC）标记目标蛋白抗体和钌红（RR）染色来确定单细胞数量以及评估细胞的相对体积。作者通过sc-ICP-TOF-MS对人体ARPE-19细胞进行系统性研究，...
她擅长使用 ICP-MS 针对先进半导体材料中痕量元素和单纳米颗粒进行分析。 前言 纳米颗粒被定义为在纳米尺度(1~100nm)范围内的超细颗粒物。天然存在的纳米颗粒在半导体制造工艺的各个方面均以污染物形式存在,因此被及时表征变得越来越重要。随着芯片变得越来越小,如今已接近5纳米技术节点(TW:原文写于2019年,而2023年...
SP-ICP-MS工作原理 SP-ICP-MS分析有两个主要要求:①样品中的颗粒数浓度非常低,以降低同时将多个颗粒引入ICP-MS的可能性;②质量分析器以小于2毫秒的驻留/积分时间运行,以观察各个粒子检测事件。 实际上,可以使用任何液体样品引入系统,其中一些对于粒子运输和离子化效率更高。通常将颗粒悬浮液稀释至10^5-10^6颗粒...
sp-icpTOF-MS评估单细胞级应激反应 单细胞-电感耦合等离子体-飞行时间质谱法(sc-ICP-TOF-MS)是一种能自动且直接检测单个人体细胞中蛋白质相对浓度的分析方法。也可以进一步采用金属纳米簇(Metal Nanocluster, …
总结SP-ICP-MS 提供了一种单壁碳纳米管金属含量的定量方法。使用金属杂质的含量可以推测单壁碳纳米管的计数浓度,有效拓展了ICP-MS在纳米材料领域的应用。另外,一旦金属含量已知,即可测定未知样品中的单壁碳纳米管浓度。这项研究的意义是可以在无需消解碳纳米管(一个冗长繁琐的过程)的情况下准确量化碳纳米管中的金...
珀金埃尔默 NexION® 5000 ICP-MS是一个四重四极杆系统,配有两个长四极杆质量分析器(Q1和Q3)、一个多功能四极杆通用池(UCT,Q2)和一个四极杆离子偏转器(QID,Q0),以克服最严重的干扰。 在本实验中,NexION 5000多重四极杆ICP-MS用于分析1%硫酸中的纳米颗粒污染,以证明其适用于半导体行业中使用的工艺化学品的...
SP-ICP-MS 单颗粒测定原理 1、只有当纳米颗粒产生的“离子云”经过检测器时才会检测到信号 ,其他信号为背景信号. 2、分析信号强度与离子云中离子数量呈正比. 3、每个“离子云”检测到的离子数量与颗粒的质量成正比. 4、颗粒的质量与粒径成正比. 信号强度 --颗粒质量 --颗粒粒径...