SOC ( System on Chip)是在同一块芯片中集成了CPU、各种存储器、总线系统、专用模块以及多种l/O接口的系统级超大规模集成电路。 由于SOC芯片的规模比较大、内部模块的类型以及来源多样,因此SOC芯片的DFT面临着诸多问题。 2.SOC涉及到的测试问题 3.SOC的全面测试 谁的风险高就先测谁,DC一般都是第一。 DC test...
ASIC是专用于某一方面的芯片,与SOC芯片相比较为简单。由于SOC芯片的规模比较大、内部模块的类型多样,因此SOC芯片的DFT面临诸多问题。SOC中不同部分测试策略也不同: 标准单元——基于SCAN的测试 存储器与模拟模块——BIST 硬核IP、软核IP——BIST,SCAN 封装与IO——Boundary Scan SOC的全面测试包含以下: 1、DC直流参...
在实际应用中,DFT在SoC设计中的应用案例非常丰富。 例如,在电路板设计中,可以通过DFT技术对电路板上的芯片进行测试,确保电路板的正常运行。 在功率放大器设计中,DFT可以帮助设计师检测并解决潜在问题,提高功率放大器的性能和可靠性。 总之,DFT在SoC设计中发挥着至关重要的作用。 通过使用DFT技术,可以提高芯片测试的...
1.2SOC芯片的DFT策略 SOC(System on Chip)是在同一块芯片中集成了CPU、各种存储器、总线系统、专用模块以及多种I/O接口的系统级超大规模集成电路。由于SOC芯片的规模比较大、内部模块的类型以及来源多样,因此SOC芯片的DFT面临着诸多问题:(1)存储器的测试问题。几乎每一款SOC芯片内部都集成了SRAM、FLASH、EEPROM等多...
作为SoC芯片DFT测试的市场领导者,西门子EDA旗下的Tessent软件提供了一套完整的芯片测试和良率分析平台,以及一流的软件和 IP来解决上述这些挑战。Tessent产品线贯穿整个芯片产品生命周期——从晶圆、封装测试到老化、在系统及现场测试。例如:Tessent streaming scan network(SSN) 可以帮助DFT工程师缩短测试时间,减少测试数据...
1.根据SOC系统设计SPEC,输出SOC DFT方案; 2.完成DFT方案的实施,包含BoundarySCAN,MBIST,SCAN,ATPG以及其他可测性电路设计; 3.负责DFT相关电路的形式验证及时序约束,协助后端完成DFT相关时序收敛,功耗分析,压降分析; 4.完成测试Pattern交付,配合测试工程师完成ATE机台测试failure诊断,并提供解决方法; ...
SOC 芯片DFT 研究与设计 杨 兵，魏敬和，王国章，虞致国 （中国电子科技集团公司第58研究所，无锡 214035）摘 要：文章首先介绍了SOC 系统的DFT 设计背景和DFT 的各种测试机理，包括基于功能的总线测试机理、基于边界扫描链的测试机理、基于插入扫描电路的测试机理以及基于存储器自测试的测试机理。然后以某专用SOC ...
虽然可测性设计(DFT)与内置自检(BIST)技术已在SoC(系统级芯片)设计中受到广泛关注,但仍然只是被看作“后端”的事。实际上,这些技术在器件整个设计周期中都非常重要,可以保证产品测试错误覆盖率最大以及测试时间最短。 图1:一个典型的百万门复杂ASIC设计,包含有内核、嵌入式存储器、专用逻辑和通信接口电路 如(图1...
soc芯片公司dft工程师规模500-999人月薪 soc芯片公司dft工程师规模500-999人年薪 月薪 月薪 年薪 薪酬区间: 30-50K,其中100%的岗位拿￥30-50K/月,年薪￥36-60W 薪酬区间: 36-60W,其中100%的岗位拿 ￥36-60W/年 100% 30-50K 100% 36-60W 数据统计来自近一年 7 份样本,截至 2024-12-01 ￥30-...
(54)发明名称一种SOC芯片DFT后仿真的方法、系统、存储介质及设备(57)摘要本发明提供了一种SOC芯片DFT后仿真的方法、系统、存储介质及设备,方法包括:编写测试用例,利用工具生成测试向量;搭建系统顶层,将数字网表例化到顶层文件中,并且将测试向量例化到顶层文件,并与DFT管脚相连;模拟部分采用模拟电路spice网表,通过顶层...