基本故障率(BFR)量化了半导体元件在正常环境条件下工作时的固有安全性。BFR乘以温度、电压和工作小时数等参数,通常得到一个可衡量元件质量的量度。BFR是用于计算随机硬件指标(按功能安全标准的要求)的主要输入之一,可通过多种方法进行估算。BFR估算方法依赖于... 基本故障率(BFR)量化了半导体元件在正常环境条件下工作时...
•早期失效(也称为婴儿死亡率):其特点是初始失效率相对较高,但会迅速降低。通过执行加速寿命测试(如老化或IDDQ测试),可以进一步减少早期失效。早期失效主要是由未有效筛选的制造缺陷引起的。缺陷总会出现,开发和不断改进有效筛查是一项要求。 •正常寿命故障:这是浴缸曲线中,故障率相对较低且恒定的区域。BFR估计解...
SN29500-1中文翻译 元器件失效率期望值及概述
参考資料 www.ti.com/ja-jp 目次 Technical White Paper IEC 62380 と SN 29500 による機能安全の FIT ベース故障率推 定の理解 Bharat Rajaram, Senior Member, Technical Staff, and Director, Functional Safety, C2000™ Microcontrollers, Texas Instruments 概要 IEC (国際電気標準会議) 61508 (1),ISO...
“监控方舱具备结构简单、功耗低、移动方便、可靠性高、故障率低的优点。”谭帮忠介绍,监控方舱可满足实时监控、视频会议、一键开关、视频切换、矩阵远控、数据转发等多种功能需求,为指挥员的决策提供及时准确的空情信息,保障每一次飞行的平稳顺畅。 不仅如此,在C919大型客机...
•正常寿命故障:这是浴缸曲线中,故障率相对较低且恒定的区域。BFR估计解决了半导体组件生命周期的这一部分。此失效率以 FIT为单位进行量化,它是对产品运行累计十亿(10⁹)小时内可能发生的失效数量的估计。 •固有损耗:这是产品生命周期中,固有损耗占主导地位且失效呈指数增长的时期。产品使用寿命的结束时间,被定...
·正常寿命故障:这是浴缸曲线中,故障率相对较低且恒定的区域。BFR估计解决了半导体组件生命周期的这一部分。此失效率以 FIT为单位进行量化,它是对产品运行累计十亿(10⁹)小时内可能发生的失效数量的估计。 ·固有损耗:这是产品生命周期中,固有损耗占主导地位且失效呈指数增长的时期。产品使用寿命的结束时间,被定义...
·正常寿命故障:这是浴缸曲线中,故障率相对较低且恒定的区域。BFR估计解决了半导体组件生命周期的这一部分。此失效率以 FIT为单位进行量化,它是对产品运行累计十亿(10⁹)小时内可能发生的失效数量的估计。 ·固有损耗:这是产品生命周期中,固有损耗占主导地位且失效呈指数增长的时期。产品使用寿命的结束时间,被定义...