紧急求助！！！XPS测试里，Sn4+和Sn2+的结合能差别很小，怎样通过其他的方式判断XPS能谱里的Sn是+4...
XPS测试里,Sn4+和Sn2+的结合能差别很小,怎样通过其他的方式判断XPS能谱里的Sn是+4价还是+2价呢? 0评论 +关注 共4个回答 清风迷雾暖风,设备维修 2018-12-11回答 我觉得都用c1s矫正之后,虽然差别很小。但还是可以参考文献?你去nist xps database查一查? 9 评论0 举报 余良清叶菲墨,设备维修 2018-12...
除了XPS外，还有什么表征手段可以区分Sn，Sn2+,Sn4+的价态呢？谢谢
0.025%、0.05%和0.1% V的光伏性能统计分布;(c) Sn-Pb和0.05% V-Sn-Pb器件的稳态功率输出;(d) 日周期中钙钛矿薄膜上平均Sn4+和Pb0的比例及相应光伏性能变化(新制器件、黑暗中储存12小时、1-sun照射12小时);(e) 日周期中Sn-Pb和0.05% V-Sn-Pb薄膜的Sn4+比例的深度XPS剖面;(f) 由氧化还原梭效应...
XPS分析得到C-H峰比例为59%,低于原始石墨的83%,等离子球磨过程中石墨的尺寸有所减小。C1s谱和Si2p谱中Si-O-C峰的形貌一致,表明等离子球磨过程中SiO颗粒与纳米少层石墨烯基体发生了化学键合,导致30SiO-Sn2Fe@C复合材料比10SiO-Sn2Fe@C复合材料团聚现象更严重。
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XPS电子结构分析表明Co3Sn2S2表面S原子的状态为S2-,相比较Ni3Sn2S2而言,S元素的电子结合能降低,表明Co3Sn2S2中Co原子带有部分正电荷。此外,S元素的高分辨图谱出现161.4 eV峰位,对应于表面状态驱动的结合能,可以确定剥离该块体材料时可以暴露表面S2...
(FTIR), scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM), selected area electron diffraction (SAED), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), vibrating sample magnetometer (VSM) studies and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ultraviolet diffused reflectance ...
直到升级naim supernait2+hicap,naimcdx2+xps电源，但思奔达的音箱声音却没有跟着升级，可能是思奔达的...
This study investigates the surface compositional evolution of the topological Weyl semimetal Co3Sn2S2, proposed to be an active catalyst for water splitting, from ultra high vacuum (UHV) to catalytic reaction conditions, using synchrotron X-ray spectroscopy (XPS). We found that the surface cleaved...