紧急求助！！！XPS测试里，Sn4+和Sn2+的结合能差别很小，怎样通过其他的方式判断XPS能谱里的Sn是+4...
XPS测试里,Sn4+和Sn2+的结合能差别很小,怎样通过其他的方式判断XPS能谱里的Sn是+4价还是+2价呢? 0评论 +关注 共4个回答 清风迷雾暖风,设备维修 2018-12-11回答 我觉得都用c1s矫正之后,虽然差别很小。但还是可以参考文献?你去nist xps database查一查? 9 评论0 举报 余良清叶菲墨,设备维修 2018-12...
除了XPS外，还有什么表征手段可以区分Sn，Sn2+,Sn4+的价态呢？谢谢
0.025%、0.05%和0.1% V的光伏性能统计分布;(c) Sn-Pb和0.05% V-Sn-Pb器件的稳态功率输出;(d) 日周期中钙钛矿薄膜上平均Sn4+和Pb0的比例及相应光伏性能变化(新制器件、黑暗中储存12小时、1-sun照射12小时);(e) 日周期中Sn-Pb和0.05% V-Sn-Pb薄膜的Sn4+比例的深度XPS剖面;(f) 由氧化还原梭效应...
(d)日周期中钙钛矿薄膜上平均Sn4+和Pb0的比例及相应光伏性能变化(新制器件、黑暗中储存12小时、1-sun照射12小时);(e) 日周期中Sn-Pb和0.05% V-Sn-Pb薄膜的Sn4+比例的深度XPS剖面;(f) 由氧化还原梭效应启动的Sn-Pb钙钛矿层...
XPS分析得到C-H峰比例为59%,低于原始石墨的83%,等离子球磨过程中石墨的尺寸有所减小。C1s谱和Si2p谱中Si-O-C峰的形貌一致,表明等离子球磨过程中SiO颗粒与纳米少层石墨烯基体发生了化学键合,导致30SiO-Sn2Fe@C复合材料比10SiO-Sn2Fe@C复合材料团聚现象更严重。
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(FTIR), scanning electron microscopy (SEM), transmission electron microscopy (TEM), selected area electron diffraction (SAED), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), vibrating sample magnetometer (VSM) studies and energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ultraviolet diffused reflectance ...
XPS电子结构分析表明Co3Sn2S2表面S原子的状态为S2-,相比较Ni3Sn2S2而言,S元素的电子结合能降低,表明Co3Sn2S2中Co原子带有部分正电荷。此外,S元素的高分辨图谱出现161.4 eV峰位,对应于表面状态驱动的结合能,可以确定剥离该块体材料时可以暴露表面S2...
直到升级naim supernait2+hicap,naimcdx2+xps电源，但思奔达的音箱声音却没有跟着升级，可能是思奔达的...